Keysight Technologies 3458A Guide D'utilisation page 885

échantillons sont ensuite transmis au contrôleur sous le forma t de sortie DREAL
(lorsque vous placez d'abord les échantillons en mémoire de lecture, le format de
sortie n'est plus limité à SINT).
10 OPTION BASE 1
20 REAL Samp(1:200) BUFFER
30 ASSIGN @Dvm TO 722
40 ASSIGN @Samp TO BUFFER Samp(*) !AFFECTATION DE LA
45
50 OUTPUT @Dvm;"PRESET FAST"
55
60 OUTPUT @Dvm; "MEM FIF0"
70 OUTPUT @Dvm; "MFORMAT SINT" !FORMAT DE LA MEMOIRE DE LECTURE: SINT
80 OUTPUT @Dvm; "OFORMAT DREAL" !FORMAT DE SORTIE : REEL LONG
90 OUTPUT @Dvm; "SSDC 10"
95
100 OUTPUT @Dvm; "SWEEP 5E - 6,200"!200 ECHANTILLONS, INTERVALLE REEL
105
110 TRANSFER @Dvm TO @Samp;WAIT !TRANSFERT DES ECHA.??TILLONS DANS LA
115
120 FOR I=1 TO 200
130 IF ABS(Samp(I))=1E+38 THEN
140 PRINT "Overload Occurred"
150 ELSE
160 Samp(I)=DROUND(Samp(I),5)
170 PRINT Samp(I)
180 END IF
190 NEXT I
200 END
Dans le programme suivant, la commande SSAC est utilisée pour numériser un
signal de 10 kHz avec une valeur crête de 5 V. La commande SWEEP demande au
multimètre de prendre 1000 échantillons (variable Num_samples) avec un
intervalle_réel de 2 µs (variable Eff_int). La mesure utilise le niveau de
déclenchement par défaut pour l'événement Source de synchronisation
(déclenchement sur le signal d'entrée, 0%, couplage CA, pente positive). La ligne
120 génère un événement SYN et transfère directement les échantillons dans
Keysight 3458A Guide d'utilisation
!BORNE INFERIEURE DU TABLEAU A 1
!CREE UN TABLEAU EN MEMOIRE- TAMPON
!AFFECTATION DE L'ADRESSE DU MULTIMETRE
!MEMOIRE-TAMPON
!PRECONFIGURATION : TARM SYN,
!TRIG AUTO, FORMATS DINT
!VALIDE LA MEMOIRE DE LECTURE, MODE FIFO
!SOUS-ECHANTILLONNAGE, GAMME 10 V,
!COUPLAGE CC
!DE 5 µs
!MEMOIRE-TAMPON DU CONTROLEUR
!DETECTION D'UNE SURCHARGE
!IMPRIME UN MESSAGE DE SURCHARGE
!EN L'ABSENCE DE SURCHARGE
!ARRONDIT A 5 CHIFFRES
!IMPRIME CHAQUE ECHANTILLON
Référence 6
381