Keysight Technologies 3458A Guide D'utilisation page 737

10 OUTPUT 722;"PRESET FAST"
20 OUTPUT 722;"MEM FIFO"
30 OUTPUT 722;"MFORMAT SINT" !FORMAT DE LA MEMOIRE DE LECTURE: SINT
40 OUTPUT 722."SSDC 10"
45
47
50 OUTPUT 722;"SWEEP 10E-9,4000" !4000 ECHANTILLONS, INTERVALLE
55
60 OUTPUT 722;"LEVEL 75 DC"
65
70 OUTPUT 722;"SLOPE POS"
80 OUTPUT 722;"SSRC LEVEL"
85
90 OUTPUT 722; "TARM SGL"
100 END
Remarques relatives au sous-échantillonnage
– En mode sous-échantillonnage, les conditions de l'événement de
– Vous ne pouvez pas utiliser la commande NRDGS pour le
– Vous ne pouvez pas utiliser la fonction de changement de gamme
Keysight 3458A Guide d'utilisation
déclenchement et d'échantillonnage sont ignorées (ces événements sont
décrits au chapitre 4). Les seuls événements de déclenchement qui
s'appliquent au sous-échantillonnage sont l'événement d'armement de
déclenchement (commande TARM) et l'événement Source de synchronisation
(commande SSRC).
sous-échantillonnage. Vous devez spécifier le nombre d'échantillons et
l'intervalle_réel a l'aide de la commande SWEEP. L'intervalle_réel minimal en
sous-échantillonnage est de 10 nanosecondes. La vitesse maximale a laquelle
les échantillons sont pris est de 50 k échantillons par seconde (20 µs entre les
échantillon).
automatique pour les mesures sous-échantillonnées. Vous devez spécifier la
gamme comme premier paramètre de la commande SSAC ou SSDC
(paramètre Entrée_max). Les paramètres Entrée_max et les gammes qu'ils
sélectionnent sont les suivants:
!TARM SYN, TRIG AUTO, FORMATS DINT
!VALIDE LA MEMOIRE DE LECTURE. MODE FIFO
!SOUS-ECHANTILLONNAGE, GAMME 10 V,
!EVENEMENT SOURCE DE SYNCHRONISATION
!LEVEL (EVENEMENT PAR DEFAUT)
!REEL DE 10 ns
!DECLENCHEMENT PAR NIVEAU A 75% DE LA
!GAMME, COUPLAGE CC
!DECLENCHEMENT SUR PENTE POSITIVE
!EVENEMENT SOURCE DE SYNCHRONISATION
!LEVEL
!VALIDATE L'ECHANTILLONNAGE
Numérisation 5
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