Hach NA5600 sc Na+ Mode D'emploi page 89

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Opción
GUARDAR
REGISTROS
ADM.
CONFIGURACIÓN
TRABAJAR CON
DISP
4. Al terminar, retire la tarjeta SD del analizador.
5. Instale la cubierta de la ranura para tarjetas SD a fin de mantener la clasificación ambiental de la
carcasa.
Figura 11 Ubicación de la ranura para tarjetas SD
1 Ranura para tarjetas SD
6.5 Instalación de la última versión de software
Instale la última versión de software en el analizador. La configuración del analizador no cambia al
instalar una nueva versión de software. Los datos guardados en el analizador no se eliminan al
instalar una nueva versión de software.
Nota: Para identificar la versión de software instalada en el analizador, pulse menu y seleccione VER DATOS >
DATOS ANALIZAD. Busque "VERSION SOTFWA".
Descripción
Guarda el archivo de registro de datos en la carpeta
HACH/Logs/ANALYZER_xxxx de la tarjeta SD. Abra el archivo de
registro de datos, ANALYZER_NAME_DL.xml, con Internet Explorer o
Excel.
Guarda el archivo de registro de datos en la carpeta
HACH/Logs/ANALYZER_xxxx de la tarjeta SD, con el formato de
archivo CSV (valores separados por comas). Abra el archivo de registro
de eventos, ANALYZER_NAME_EL.csv, con Excel.
Opciones: ÚLTIMO DÍA, ÚLTIMA SEMANA, ÚLTIMO MES, TODOS o
NUEVO.
Nota: Para guardar los otros archivos de registro en la tarjeta SD, consulte la
opción TRABAJAR CON DISP.
CONF. COPIA SEGURIDAD: guarda la configuración del analizador en
la tarjeta SD. TRANSFERIR CONFIG: instala la configuración del
analizador guardada en la tarjeta SD en el analizador.
LEER ARCH. DE DISP: guarda los datos del dispositivo seleccionado
en la carpeta HACH/Devices de la tarjeta SD, en formato de archivo
CSV. Opciones: DATOS MUESTRA DISCRETA, HISTORICO CAL,
SEÑAL SENSOR, DATOS DE MEDICIÓN (datos de curva para
calibraciones y mediciones de muestras discretas) e HISTORIAL
SERVIC. ESCRIBIR ARCH. DE DISP: instala una nueva versión del
script del ciclo de medición.
Nota: La opción ESCRIBIR ARCH. DE DISP solo aparece si hay una nueva
versión del script del ciclo de medición en la tarjeta SD.
Español 89

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