Mode Numérique - Hameg Instruments Combiscope Hm1008 Manuel

L'inclinaison indique la valeur de la résistance, ce qui permet
de tester les résistances ohmiques entre 20 Ω et 4,7 kΩ.
Les condensateurs et les inductances (bobines, enroulements
de transformateur) produisent une différence de phase entre
le courant et la tension, c'est-à-dire entre les tensions de
déviation, ce qui donne lieu à une image elliptique. La position
et l'ouverture de l'ellipse caractérisent l'impédance à une
fréquence de 50 Hz. Les condensateurs peuvent être affi chés
entre 0,1 μF et 1000 μF.
- Une ellipse dont l'axe longitudinal est horizontal indique une
impédance élevée (faible capacité ou forte inductance).
- Une ellipse dont l'axe longitudinal est vertical indique une
faible impédance (capacité élevée ou faible inductance).
- Une ellipse inclinée indique une résistance ohmique rela-
tivement élevée en série avec la réactance.
Dans le cas des semiconducteurs, on reconnaît le coude de la
courbe au niveau de la transition entre l'état passant et l'état
bloqué. Si la tension le permet, l'appareil affi che la caractéri-
stique directe et inverse (par exemple d'une diode Zener infé-
rieure à 10 V). Comme il s'agit toujours d'un contrôle bipolaire,
il est impossible de tester le gain d'un transistor, par exemple,
mais seulement les jonctions B-C, B-E et C-E. Le courant de
test qui n'est que de quelques mA permet de contrôler sans
risque les zones individuelles de pratiquement tous les semi-
conducteurs. Il n'est pas possible de déterminer une tension de
claquage et une tension de blocage de semiconducteur >10 V.
Cette limitation ne constitue cependant pas un inconvénient
majeur, car les écarts qui se produisent de toute façon dans le
circuit en cas de défaut permettent d'identifi er explicitement
le composant défectueux.
M o d e n u m é r i q u e
Des résultats relativement précis peuvent être obtenus en ef-
fectuant une comparaison avec des composants fonctionnels
de même type et de même valeur. Cela est notamment vrai
pour les semiconducteurs. Il est ainsi possible de déterminer
rapidement la cathode d'une diode dont le marquage est in-
connu, la différence entre un transistor PNP et le modèle NPN
complémentaire ou encore l'ordre correct des broches B-C-E
d'un modèle de transistor inconnu.
Il faut ici tenir compte du fait que l'inversion des bornes d'un
semiconducteur (inversion des cordons de mesure) provoque
une rotation de l'image de 180° autour du point central du
graticule.
Un autre aspect important est la facilité de détection des com-
posants coupés ou en court-circuit, ce qui est la fonction la
plus couramment utilisée lors d'un dépannage. Il est fortement
recommandé d'adopter les mesures de précaution d'usage
pour les composants MOS en matière de décharges statiques
ou de triboélectricité. Un ronfl ement peut apparaître à l'écran
si la liaison de base ou de gâchette d'un transistor est coupée,
c'est-à-dire non testée (sensibilité de la main).
Les tests effectués directement dans le circuit sont possibles
dans de nombreux cas, mais pas vraiment explicites. Le circuit
parallèle composé de grandeurs réelles et/ou complexes, nota-
mment si celles-ci présentent une impédance particulièrement
faible à une fréquence de 50 Hz, donne généralement lieu des
différentes importantes par rapport aux composants isolés. Si
l'on travaille souvent avec des circuits de même type (entretien),
une comparaison avec un circuit en état de fonctionnement
est ici suffi sante. Cette méthode est même particulièrement
rapide, car il est inutile (et interdit !) de mettre le circuit de
référence sous tension. Il suffi t d'appliquer les cordons de
mesure successivement sur les mêmes paires de points de
mesure et de comparer les images obtenues. Sous certaines
conditions, le circuit testé contient déjà lui-même le circuit de
référence, par exemple dans le cas des canaux stéréo, d'un
étage push-pull, d'un pont symétrique. En cas de doute, il est
possible de dessouder l'une des broches du composant. Il faut
alors raccorder cette broche au cordon de mesure qui n'est pas
relié à la masse afi n de réduire le ronfl ement. La prise de test
qui comporte le signe moins est à la masse de l'oscilloscope
et donc insensible au ronfl ement.
Les images de test montrent quelques exemples pratiques
d'application du testeur de composants.
Mode numérique
En comparaison du mode analogique, le mode numérique offre
en principe les avantages suivants:
- Il est facile d'acquérir des événements monocoups.
- Les signaux à très basse fréquence peuvent être représentés
sans diffi cultés sous la forme d'une courbe complète.
- Les signaux à haute fréquence et à faible fréquence de
récurrence ne donnent pas lieu à une baisse de luminosité
de la trace.
- Les signaux acquis peuvent facilement être documentés ou
traités.
Sous réserve de modifi cations
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