Essais De Compatibilité Pour Appareils Périphériques - Esaote O-scan eXP Manuel De L'utilisateur

Essais de compatibilité pour appareils périphériques
Le fabricant d'appareils périphériques peut évaluer l'influence du système
O-scan sur son propre dispositif périphérique à l'aide du protocole « test
de susceptibilité » approprié, dont la procédure d'exécution est décrite au
chapitre « Gestion du système » du manuel interface utilisateur.
L'essai vise à évaluer la susceptibilité aux perturbations électromagnétiques
de l'équipement périphérique situé à proximité du système O-scan ; l'essai
ne fournit aucune garantie quant au bon fonctionnement du disposif
périphérique.
De plus, ce test permet à l'utilisateur de vérifier la susceptibilité du
système O-scan aux perturbations électromagnétiques causées par les
équipements périphériques situés à proximité du système lui-même.
Le protocole « test de susceptibilité » a été conçu pour faire fonctionner le
système O-scan avec un champ de transmission RF élevé et des valeurs
élevées d'ampleur et de vitesse de réponse des gradients. Le test peut
être effectué de façon routinière sur le système.
La configuration du test implique l'utilisation des éléments suivants :
solution aqueuse de NiCl
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8 / 52 Chapitre 3
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bobine 1 Genou
fantôme géométrique. Le fantôme géométrique est rempli d'une
protocole Susceptibilité, contenant les séquences :
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Spin Echo 18, pour évaluer la susceptibilité des appareils
périphériques aux perturbations électromagnétiques causées par le
système. Les paramètres sont les suivants : TE = 18 ms, TR = 530
ms, FOV = 100*100, matrice d'acquisition = 256*256, nombre de
couches = 14, épaisseur de la couche = 2 mm, espace = 1 mm,
nombre d'excitations = 6.
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Gradient Echo 10, pour évaluer la susceptibilité du système aux
perturbations électromagnétiques
périphériques. Les paramètres sont les suivants : TE = 10 ms, TR
= 500 ms, FOV = 200*200, matrice d'acquisition = 256*256,
nombre de couches = 11, épaisseur de la couche = 5 mm, espace
= 0 mm, nombre d'excitations = 6.
et NaCl
2
causées par les appareils