Essais De Compatibilité Pour Appareils Périphériques - Esaote G-scan Brio Manuel D'utilisation

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Essais de compatibilité pour appareils périphériques
Le fabricant d'appareils périphériques peut évaluer l'influence du système
G-scan Brio sur son équipement périphérique à l'aide du protocole « test
de susceptibilité » approprié, dont la procédure d'exécution est décrite au
chapitre « Gestion du système » du manuel de l'interface utilisateur.
L'essai
électromagnétiques de l'équipement périphérique situé à proximité du
système G-scan Brio ; l'essai ne fournit aucune garantie quant au bon
fonctionnement du dispositif périphérique.
De plus, ce test permet à l'utilisateur de vérifier la susceptibilité du
système G-scan Brio aux perturbations électromagnétiques causées par
les équipements périphériques situés à proximité du système lui-même.
Le protocole « test de susceptibilité » a été conçu pour faire fonctionner le
système G-scan Brio avec un champ de transmission RF élevé et des
valeurs élevées d'ampleur et de vitesse de réponse des gradients. Le test
peut être effectué de façon routinière sur le système.
La configuration du test implique l'utilisation des éléments suivants :
solution aqueuse de NiCl
10 / 64
Chapitre 3
vise
à
évaluer
antenne 2 Genou :
fantôme géométrique. Le fantôme géométrique est rempli d'une
protocole Susceptibilité, contenant les séquences :
Spin Echo 18, pour évaluer la susceptibilité des appareils
périphériques aux perturbations électromagnétiques causées par le
système. Les paramètres sont les suivants : TE = 18 ms, TR = 530
ms, FOV = 100*100, matrice d'acquisition = 256*256, nombre de
couches = 14, épaisseur de la couche = 2 mm, espace = 1 mm,
nombre d'excitations = 6.
Gradient Echo 10, pour évaluer la susceptibilité du système aux
perturbations
électromagnétiques
périphériques. Les paramètres sont les suivants : TE = 10 ms, TR
= 500 ms, FOV = 200*200, matrice d'acquisition = 256*256,
nombre de couches = 11, épaisseur de la couche = 5 mm, espace
= 0 mm, nombre d'excitations = 6.
la
susceptibilité
et NaCl.
2
causées
aux
perturbations
par
les
appareils

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