Test Des Semiconducteurs; Test De Diodes; Test De Transistors; Test Sur Circuits - Hameg Instruments Hm504 Manuel

Testeur de composants
inductance est plus difficile à cause de la résistance série.
Cependant la valeur de l'impédance d'une self (à 50Hz) peut
facilement être obtenue et comparée dans la gamme de 20Ω
à 4,7kΩ.

Test des semiconducteurs

La plupart des semiconducteurs tels que diodes, diodes Zener,
transistors et effets de champs peuvent être testés. La figure
obtenue dépend du type du composant (voir ci dessous).
La principale caractéristique des semiconducteurs est la non
linéarité. Elle donne à l'écran deux segments qui forment un
angle. Il faut noter que caractéristiques directes et inverses
sont visualisées simultanément. Ce test concerne seulement
deux broches, ainsi le test de gain d'un transistor n'est pas
possible. Comme la tension de test appliquée est basse, toutes
les jonctions de la plupart des semiconducteurs peuvent être
testées sans dommage. C'est pourquoi le test de la tension
de blocage ou de la tension inverse des semiconducteurs haute
tension n'est pas possible. Dans de nombreux cas, seul un
test de circuit ouvert ou fermé est suffisant.

Test de diodes

Le tracé de caractéristiques de diodes présente une angulation.
Le tracé pour les diodes haute tension est différent parce que
ces diodes sont composées de plusieurs diodes mises en
série. Il est possible que seule une partie de la caractéristique
soit visible. Les diodes Zener présentent deux coudes, une
coude proche de 0V, et un coude montrant la tension de Zener.
Les tensions de Zener supérieures à 6,8V ne peuvent pas être
visualisées.
La polarité d'une diode inconnue peut être identifiée par
comparaison avec une diode connue.

Test de transistors

Les tests suivants peuvent être réalisés sur les transistors:
base émetteur, base collecteur et émetteur collecteur. Les
figures de test sont représentées ci-dessous. Le circuit
équivalent d'une diode Zener est la mise en série de plusieures
diodes normales. Il y a trois figures de test différentes:
Pour un transistor, les figures b-e et b-c sont importantes. La
figure e-c est variable; une ligne verticale montre un court-
circuit. Ces figures sont identiques avec la plupart des
transistors sauf avec les Darlington et les FET. Le testeur de
composants permet de distinguer un transistor P-N-P d'un
transistor N-P-N. En cas de doute, la comparaison avec un
composant connu est utile. Une inversion de connexion
engendre une rotation de la figure à l'écran de 180°.
36
Tests sur circuit
Attention!
lors de tests sur circuit il faut s'assurer que le cir-
cuit est deconnecté. Il ne doit être relié ni au
secteur, ni à une batterie, ni à des signaux d'en-
trée. Débrancher toutes les connexions du circuit
y compris le câble de masse et les cordons de
mesure afin qu'il soit entièrement isolé électrique-
ment.
Dans de nombreux cas les tests sur circuits sont possibles.
Les figures obtenues ne sont pas classées parce qu'elles
dépendent de l'ensemble des composants aux deux points
de test. Ainsi, la figure obtenue peut être différente de celle
obtenue avec un composant isolé. En cas de doute, désouder
le composant du circuit. Mettre le composant directement
sur les prises du testeur de composants pour éviter les
phénomènes de ronflement.
On peut également procéder par comparaison avec un circuit
en état de marche en prenant les mêmes précautions que
pour le circuit à tester.
Sous réserve de modifications