Testeur De Composants; Généralités; Utilisation Du Testeur De Composants; Procédure De Test - Hameg Instruments Hm504 Manuel

Si les conditions précédentes ne sont pas remplies, "DC?" est
affiché.
La valeur moyenne est saisie à l'aide de l'amplificateur du
signal de déclenchement utilisé dans le déclenchement
interne. Lorsqu'on ne travaille qu'avec une seule voie, la valeur
moyenne indiquée concerne automatiquement la voie affichée,
car le changement de voie entraîne automatiquement un
changement de source de déclenchement (amplificateur). En
fonctionnement DUAL, on peut choisir le signal de
déclenchement (voie 1 ou 2). L'affichage se rapporte à la voie
de laquelle vient le signal de déclenchement.
La valeur moyenne peut être précédée d'un signe (par exemple
DC:Y1 501mV ou DC:Y1 -501mV). Les dépassements de la
plage de mesure sont indiqués par les signes "<" ou ">" (par
exemple DC:Y1<-1.80V ou DC:Y1>1.80V). Une constante
de temps étant nécessaire pour l'obtention de la valeur
moyenne, l'affichage ne s'actualise que quelques minutes
après les changements de tensions.
En ce qui concerne la précision de l'affichage, il faut prendre
en compte les spécifications de l'oscilloscope (tolérance
maximale de l'amplificateur de mesure de 3% de 5mV/cm à
20V/cm). Normalement cette tolérance se trouve nettement
en dessous des 3%, il existe cependant d'autres erreurs à
prendre en compte comme les inévitables tensions d'offset,
qui peuvent provoquer un affichage différent de zéro en
l'absence de signal.
L'affichage indique la valeur moyenne arithmétique (linéaire).
Pour des tensions continues ou des tensions superposées
(tension alternative superposée à une tension continue), la
tension continue ou la composante continue est affichée. Dans
le cas de signaux rectengulaires, le rapport cyclique intervient
dans la valeur moyenne.

Testeur de composants

Généralités
Les informations spécifiques à l'appareil qui concernent
l'utilisation et le branchement du testeur de composant se
trouvent dans le paragraphe "CT" (37) dans la partie
" Éléments de commande et Readout ".
L'appareil est équipé d'un testeur électronique de composants
qui permet d'afficher une courbe de test indiquant l'état
défectueux ou non du composant. Il peut être employé pour
le contrôle rapide des semiconducteurs (par exemple diodes
et transistors), des résistances, condensateurs et inductances.
Certains tests peuvent également être réalisés sur des circuits
intégrés. Tous ces composants peuvent être testés
individuellement ou en circuit sous réserve qu'il ne soit pas
alimenté.
Le principe de test est des plus simples. Un générateur intégré
délivre une tension sinusoïdale qui est appliquée aux bornes
du composant à tester en série avec une résistance fixe
intégrée. La tension sinusoïdale aux bornes du composant
est utilisée pour la déviation horizontale et la chute de tension
aux bornes de la résistance (c'est à dire le courant qui traverse
le composant) est utilisée pour la déviation verticale de
l'oscilloscope. La courbe de test représente une caractéristique
courant/tension du composant.
La plage de mesure du testeur de composants est limitée et
dépend de la tension et du courant de test maximum (voir
fiche technique). L'impédance du composant testé est limitée
à une plage comprise entre environ 20 Ω et 4,7 kΩ. En-dehors
de cette plage, la courbe de test révélera un circuit ouvert ou
Sous réserve de modifications
un court-circuit. Il faut toujours garder ces limites à l'esprit
pour l'interprétation de la courbe de test affichée. La majorité
des composants électroniques peuvent cependant être testés
sans restrictions.

Utilisation du testeur de composants

Le testeur de composants est mis en service par pression sur
la touche "CT" située sous l'écran. Le pré-amplificateur vertical
et la base de temps sont mis hors service. Une courte trace
horizontale est observée. Il n'est pas nécessaire de débrancher
les entrées de l'oscilloscope, les signaux d'entrées seront sans
effet. En mode testeur de composants, seules les
commandes INTENS, FOCUS, et X-POS sont actives. Toutes
les autres commandes et réglages sont inactifs.
Le branchement du composant est réalisé par deux prises
banane de 4mm reliées à des pointes de touche ou à des
grippe-fils. L'un des fils est relié à la prise COMP. TESTER,
l'autre est relié à la terre. Le composant peut être relié aux
cordons de test de différentes façons.
L'oscilloscope revient en position normale par un pression sur
la touche "CT".
Procédure de test
Attention! Ne jamais tester un composant sous
tension. Débrancher les masses, les alimenta-
tions et les signaux connectés au composant à
tester. Mettre en service le testeur de compo-
sants. Brancher le composant et observer
l'oscilloscope. Seules les capacités déchargées
peuvent être testées

Affichage de la figure de test

La page Tests montre différentes figures avec des composants
testés.
- Un circuit ouvert est représenté par une ligne horizontale.
- Un court-circuit est représenté par une ligne verticale.
Test de résitances
Si le composant est une résistance pure, la tension et le
courant sont en phase. La figure de test est une ligne droite
oblique. La valeur de la résistance détermine l'angle
d'inclinaison. Les valeurs de résistances élevées donnent une
trace proche de l'horizontale et des valeurs faibles donnent
une trace proche de la verticale. Les résistances comprises
entre 20Ω et 4,7kΩ peuvent être évaluées. L'évaluation d'une
résistance vient de l'expérience ou d'une comparaison directe
avec un composant connu.
Test de capacités et d'inductances
Les capacités et les inductances provoquent une différence
de phase entre le courant et la tension engendrant ainsi une
ellipse. L'angle et l'ouverture de l'ellipse dépend de
l'impédance du composant à 50Hz.
Une ellipse horizontale indique une haute impédance, une
faible capacité ou une inductance relativement élevée.
Une ellipse verticale indique une faible impédance, une capa-
cité élevée ou une inductance relativement faible.
Une ellipse inclinée provient d'une résistance élevée ajoutée
à une réactance.
Les valeurs des capacités normales ou électrochimiques de
0,1µF à 1000µF peuvent être obtenues approximativement.
Des mesures précises peuvennt être réalisées par
comparaison avec une capacité connue. Les composants
inductifs tels que bobines, transformateurs, peuvent
également être testés. La détermination de la valeur d'une
Testeur de composants
.
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