Table des Matières
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L'oscilloscope revient en position normale par un pression sur la
touche COMP. TESTER.
Procédure de test
Attention! Ne jamais tester un composant sous tension.
Débrancher les masses, les alimentations et les signaux
connectés au composant à tester. Mettre en service le
testeur de composants. Brancher le composant et observer
l'oscilloscope. Seules les capacités déchargées peuvent être
testées.
Affichage de la figure de test
La page Tests montre différentes figures avec des composants
testés.
–
Un circuit ouvert est représenté par une ligne horizontale.
–
Un court-circuit est représenté par une ligne verticale.
Test de résistances
Si le composant est une résistance pure, la tension et le courant
sont en phase. La figure de test est une ligne droite oblique. La
valeur de la résistance détermine l'angle d'inclinaison. Les valeurs
de résistances élevées donnent une trace proche de l'horizontale
et des valeurs faibles donnent une trace proche de la verticale.
Les résistances comprises entre 20 W et 4,7 kW peuvent être
évaluées. L'évaluation d'une résistance vient de l'expérience ou
d'une comparaison directe avec un composant connu.
Test de capacités et d'inductances
Les capacités et les inductances provoquent une différence de
phase entre le courant et la tension engendrant ainsi une ellipse.
L'angle et l'ouverture de l'ellipse dépend de l'impédance du
composant à 50 Hz.
–
Une ellipse horizontale indique une haute impédance, une
faible capacité ou une inductance relativement élevée.
–
Une ellipse verticale indique une faible impédance, une capacité
élevée ou une inductance relativement faible.
–
Une ellipse inclinée provient d'une résistance élevée ajoutée
à une réactance.
Les valeurs des capacités normales ou électrochimiques de
0,1µF à 1000µF peuvent être obtenues approximativement. Des
mesures précises peuvent être réalisées par comparaison avec
une capacité connue. Les composants inductifs tels que bobines,
transformateurs, peuvent également être testés. La détermination
de la valeur d'une inductance est plus difficile à cause de la
résistance série. Cependant la valeur de l'impédance d'une self
(à 50Hz) peut facilement être obtenue et comparée dans la
gamme de 20W à 4,7 kW.
Test des semiconducteurs
La plupart des semiconducteurs tels que diodes, diodes Zener,
transistors et effets de champs peuvent être testés. La figure
obtenue dépend du type du composant (voir ci dessous).
La principale caractéristique des semiconducteurs est la non
linéarité. Elle donne à l'écran deux segments qui forment un
angle. Il faut noter que caractéristiques directes et inverses sont
visualisées simultanément. Ce test concerne seulement deux
Sous réserve de modifications
broches, ainsi le test de gain d'un transistor n'est pas possible.
Comme la tension de test appliquée est basse, toutes les
jonctions de la plupart des semiconducteurs peuvent être testées
sans dommage. C'est pourquoi le test de la tension de blocage
ou de la tension inverse des semiconducteurs haute tension
n'est pas possible. Dans de nombreux cas, seul un test de circuit
ouvert ou fermé est suffisant.
Test de diodes
Le tracé de caractéristiques de diodes présente une angulation.
Le tracé pour les diodes haute tension est différent parce que ces
diodes sont composées de plusieurs diodes mises en série. Il est
possible que seule une partie de la caractéristique soit visible.
Les diodes Zener présentent deux coudes, une coude proche de
0V, et un coude montrant la tension de Zener. Les tensions de
Zener supérieures à 6,8V ne peuvent pas être visualisées.
La polarité d'une diode inconnue peut être identifiée par
comparaison avec une diode connue.
Test de transistors
Les tests suivants peuvent être réalisés sur les transistors: base
émetteur, base collecteur et émetteur collecteur. Les figures de
test sont représentées ci-dessous.
Le circuit équivalent d'une diode Zener est la mise en série de
plusieurs diodes normales. Il y a trois figures de test différentes:
Pour un transistor, les figures b-e et b-c sont importantes. La
figure e-c est variable; une ligne verticale montre un court-circuit.
Ces figures sont identiques avec la plupart des transistors sauf
avec les Darlington et les FET. Le testeur de composants permet
de distinguer un transistor P-N-P d'un transistor N-P-N. En cas de
doute, la comparaison avec un composant connu est utile. Une
inversion de connexion engendre une rotation de la figure à
l'écran de 180°.
Testeur de composants
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