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T e s t e u r d e c o m p o s a n t s
diffi cile à cause de la résistance série. Cependant la valeur de
l'impédance d'une self (à 50Hz) peut facilement être obtenue
et comparée dans la gamme de 20Ω à 4,7kΩ.
Test des semiconducteurs
La plupart des semiconducteurs tels que diodes, diodes Zener,
transistors et effets de champs peuvent être testés. La fi gure
obtenue dépend du type du composant (voir ci dessous).
La principale caractéristique des semiconducteurs est la non
linéarité. Elle donne à l'écran deux segments qui forment un
angle. Il faut noter que caractéristiques directes et inverses
sont visualisées simultanément. Ce test concerne seulement
deux broches, ainsi le test de gain d'un transistor n'est pas
possible. Comme la tension de test appliquée est basse, toutes
les jonctions de la plupart des semiconducteurs peuvent être
testées sans dommage. C'est pourquoi le test de la tension de
blocage ou de la tension inverse des semiconducteurs haute
tension n'est pas possible. Dans de nombreux cas, seul un test
de circuit ouvert ou fermé est suffi sant.
Test de diodes
Le tracé de caractéristiques de diodes présente une angulation.
Le tracé pour les diodes haute tension est différent parce que ces
diodes sont composées de plusieurs diodes mises en série. Il est
possible que seule une partie de la caractéristique soit visible.
Les diodes Zener présentent deux coudes, une coude proche de
0V, et un coude montrant la tension de Zener. Les tensions de
Zener supérieures à 6,8V ne peuvent pas être visualisées.
La polarité d'une diode inconnue peut être identifi ée par com-
paraison avec une diode connue.
Test de transistors
Les tests suivants peuvent être réalisés sur les transistors: base
émetteur, base collecteur et émetteur collecteur. Les fi gures de
test sont représentées ci-dessous. Le circuit équivalent d'une
diode Zener est la mise en série de plusieures diodes normales.
Il y a trois fi gures de test différentes:
Pour un transistor, les fi gures b-e et b-c sont importantes. La
fi gure e-c est variable; une ligne verticale montre un court-cir-
cuit. Ces fi gures sont identiques avec la plupart des transistors
sauf avec les Darlington et les FET. Le testeur de composants
permet de distinguer un transistor P-N-P d'un transistor N-P-
N. En cas de doute, la comparaison avec un composant connu
est utile. Une inversion de connexion engendre une rotation de
la fi gure à l'écran de 180°.
Tests sur circuit
Attention!
lors de tests sur circuit il faut s'assurer que le circuit est de-
connecté. Il ne doit être relié ni au secteur, ni à une batterie, ni
à des signaux d'entrée. Débrancher toutes les connexions du
circuit y compris le câble de masse et les cordons de mesure
afi n qu'il soit entièrement isolé électriquement.
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Sous réserve de modifi cations
Dans de nombreux cas les tests sur circuits sont possibles.
Les fi gures obtenues ne sont pas classées parce qu'elles
dépendent de l'ensemble des composants aux deux points
de test. Ainsi, la fi gure obtenue peut être différente de celle
obtenue avec un composant isolé. En cas de doute, désouder le
composant du circuit. Mettre le composant directement sur les
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