Table des Matières
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Lorsqu'on ne travaille qu'avec une seule voie, la valeur moyenne
indiquée concerne automatiquement la voie affi chée, car le
changement de voie entraîne automatiquement un changement
de source de déclenchement (amplifi cateur). En fonctionnement
DUAL, on peut choisir le signal de déclenchement (voie 1 ou
2). L'affi chage se rapporte à la voie de laquelle vient le signal
de déclenchement.
La valeur moyenne peut être précédée d'un signe (par exemple
DC:Y1 501mV ou DC:Y1 -501mV). Les dépassements de la plage
de mesure sont indiqués par les signes "<" ou ">" (par exemple
DC:Y1<–1.80 V ou DC:Y1>1.80 V). Une constante de temps étant
nécessaire pour l'obtention de la valeur moyenne, l'affi chage
ne s'actualise que quelques minutes après les changements
de tensions.
En ce qui concerne la précision de l'affi chage, il faut prendre en
compte les spécifi cations de l'oscilloscope (tolérance maximale
de l'amplifi cateur de mesure de 3% de 5 mV/cm à 20 V/cm). Nor-
malement cette tolérance se trouve nettement en dessous des
3%, il existe cependant d'autres erreurs à prendre en compte
comme les inévitables tensions d'offset, qui peuvent provoquer
un affi chage différent de zéro en l'absence de signal.
L'affi chage indique la valeur moyenne arithmétique (linéaire).
Pour des tensions continues ou des tensions superposées (ten-
sion alternative superposée à une tension continue), la tension
continue ou la composante continue est affi chée. Dans le cas
de signaux rectengulaires, le rapport cyclique intervient dans
la valeur moyenne.
Testeur de composants
Généralités
Les informations spécifiques à l'appareil qui concernent
l'utilisation et le branchement du testeur de composant se
trouvent dans le paragraphe "CT" dans la partie " Éléments de
commande et Readout ".
L'appareil est équipé d'un testeur électronique de composants
qui permet d'affi cher une courbe de test indiquant l'état défectu-
eux ou non du composant. Il peut être employé pour le contrôle
rapide des semiconducteurs (par exemple diodes et transistors),
des résistances, condensateurs et inductances. Certains tests
peuvent également être réalisés sur des circuits intégrés. Tous
ces composants peuvent être testés individuellement ou en
circuit sous réserve qu'il ne soit pas alimenté.
Le principe de test est des plus simples. Un générateur intégré
délivre une tension sinusoïdale qui est appliquée aux bornes du
composant à tester en série avec une résistance fi xe intégrée.
La tension sinusoïdale aux bornes du composant est utilisée
pour la déviation horizontale et la chute de tension aux bornes
de la résistance (c'est à dire le courant qui traverse le compo-
sant) est utilisée pour la déviation verticale de l'oscilloscope. La
courbe de test représente une caractéristique courant/tension
du composant.
La plage de mesure du testeur de composants est limitée
et dépend de la tension et du courant de test maximum (voir
fi che technique). L'impédance du composant testé est limitée
à une plage comprise entre environ 20 Ω et 4,7 kΩ. Endehors
T e s t e u r d e c o m p o s a n t s
de cette plage, la courbe de test révélera un circuit ouvert ou
un court-circuit. Il faut toujours garder ces limites à l'esprit
pour l'interprétation de la courbe de test affi chée. La majorité
des composants électroniques peuvent cependant être testés
sans restrictions.
Utilisation du testeur de composants
Le testeur de composants est mis en service par pression
sur la touche "CT" située sous l'écran. Le pré-amplifi cateur
vertical et la base de temps sont mis hors service. Une courte
trace horizontale est observée. Il n'est pas nécessaire de dé-
brancher les entrées de l'oscilloscope, les signaux d'entrées
seront sans effet. En mode testeur de composants, seules les
commandes INTENS, FOCUS, et X-POS sont actives. Toutes les
autres commandes et réglages sont inactifs.
Le branchement du composant est réalisé par deux prises bana-
ne de 4mm reliées à des pointes de touche ou à des grippe-fi ls.
L'un des fi ls est relié à la prise COMP. TESTER, l'autre est relié
à la terre. Le composant peut être relié aux cordons de test de
différentes façons. L'oscilloscope revient en position normale
par un pression sur la touche "CT".
Procédure de test
Attention! Ne jamais tester un composant sous tension. Débran-
cher les masses, les alimentations et les signaux connectés au
composant à tester. Mettre en service le testeur de composants.
Brancher le composant et observer l'oscilloscope. Seules les
capacités déchargées peuvent être testées.
Affi chage de la fi gure de test
La page Tests montre différentes fi gures avec des composants
testés.
–
Un circuit ouvert est représenté par une ligne horizontale.
–
Un court-circuit est représenté par une ligne verticale.
Test de résitances
Si le composant est une résistance pure, la tension et le courant
sont en phase. La fi gure de test est une ligne droite oblique.
La valeur de la résistance détermine l'angle d'inclinaison. Les
valeurs de résistances élevées donnent une trace proche de
l'horizontale et des valeurs faibles donnent une trace proche
de la verticale. Les résistances comprises entre 20Ω et 4,7kΩ
peuvent être évaluées. L'évaluation d'une résistance vient de
l'expérience ou d'une comparaison directe avec un composant
connu.
Test de capacités et d'inductances
Les capacités et les inductances provoquent une différence
de phase entre le courant et la tension engendrant ainsi une
ellipse. L'angle et l'ouverture de l'ellipse dépend de l'impédance
du composant à 50Hz.
Une ellipse horizontale indique une haute impédance, une faible
capacité ou une inductance relativement élevée. Une ellipse
verticale indique une faible impédance, une capacité élevée ou
une inductance relativement faible. Une ellipse inclinée provient
d'une résistance élevée ajoutée à une réactance.
Les valeurs des capacités normales ou électrochimiques de
0,1μF à 1000μF peuvent être obtenues approximativement.
Des mesures précises peuvennt être réalisées par compa-
raison avec une capacité connue. Les composants inductifs
tels que bobines, transformateurs, peuvent également être
testés. La détermination de la valeur d'une inductance est plus
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Sous réserve de modifi cations
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