Effacement Du Parcours Résiduel - Siemens SINUMERIK 840D Manuel Utilisateur

A
Annexes
Glossaire
840 D 840 D
NCU 571 NCU 572
NCU 573
Diamètre de sphère de
palpeur
E
Ecart de position
Effacement du
parcours résiduel
Etalonnage
F
Facteur de
multiplication de la
course de mesure
Facteur de pondération
k pour la formation de
la moyenne
I
Image de résultats de
mesure
A-410
810 D 840Di
Diamètre de la sphère du palpeur. Il est déterminé par l'étalonnage et
stocké dans les paramètres de cycles de mesure.
L'écart de position décrit l'écart entre le centre de la broche et le centre
de la sphère du palpeur déterminé à l 'étalonnage. Cet écart est
compensé par les cycles de mesure.
Lorsqu'un point de mesure doit être accosté, un ordre de déplacement
est donné au circuit d'asservissement de position et le palpeur accoste
le point de mesure. Un point est défini comme position de consigne
derrière le point de mesure attendu. Dès qu'il y a contact du palpeur, la
position réelle de l'axe est saisie et l'entraînement est arrêté avec
effacement du "parcours résiduel".
L'étalonnage sert à déterminer les points de déclenchement du palpeur;
ceux-ci sont ensuite rangés dans les paramètres de cycles de mesure
de GUD6.
L'incrément de déplacement est normalement de 1 mm, mais peut être
modifié avec le paramètre _FA à l'appel des cycles de mesure.
Ce facteur permet une pondération des mesures effectuées.
Ainsi les nouveaux résultats de mesure n'exercent qu'une influence
pondérée, en fonction de la valeur de k, sur la nouvelle correction
d'outil.
Des images de résultats de mesure peuvent être affichées
automatiquement en cours de cycle de mesure.
Cette fonction dépend de la configuration de l'interface utilisateur pour
cycles de mesure dans MMC et du paramétrage des cycles de mesure.
SINUMERIK 840D/840Di/810D Manuel utilisateur Cycles de mesure (BNM) – Edition 11.02
A
11.02
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