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4 Didacticiels pour la réalisation de mesures
Erreurs dues à la charge provoquée par la résistance d'entrée
Les erreurs de mesure dues à la charge se produisent lorsque la résistance de sortie du dispositif testé (DUT)
représente un pourcentage appréciable de la résistance d'entrée propre de l'instrument. Le schéma ci-dessous
illustre cette source d'erreur :
où :
V
= Tension de sortie idéale du dispositif testé
s
R
= Résistance de sortie du dispositif testé
s
R
= Résistance d'entrée (10 MΩ ou > 10 GΩ)
i
Pour minimiser les erreurs dues à la charge, réglez la résistance d'entrée de courant continu du DMM sur une valeur
supérieure à 10 GΩ si nécessaire.
Erreurs dues à la charge provoquée par le courant de polarisation d'entrée
Les composants à semi-conducteur utilisés dans les circuits d'entrée du multimètre numérique (DMM) interne
présentent de faibles courants de fuite appelés courants de polarisation. L'effet du courant de polarisation d'entrée
est d'engendrer une erreur due à la charge aux bornes d'entrée du multimètre numérique (DMM) interne. Le
courant de fuite double approximativement pour chaque augmentation de la température de 10 °C, rendant le
problème beaucoup plus visible pour les températures élevées.
où :
Ib = Courant de polarisation du multimètre numérique (DMM)
Rs = Résistance de sortie du dispositif testé
Ri = Résistance d'entrée (10 MΩ ou > 10 GΩ)
ic = Capacité d'entrée du multimètre numérique (DMM)
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Guide d'utilisation du Keysight DAQ970A/DAQ973A
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