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– Nettoyage : en environnement dangereux, le dispositif doit être nettoyé uniquement avec un chiffon
humide afin d'éviter toute décharge électrostatique.
Branchement aux blocs d'alimentation
– Les dispositifs de la série mentionnée ci-dessus doivent être reliés exclusivement à des blocs
d'alimentation antidéflagrants (pour les tensions d'entrée, reportez-vous au manuel d'instruction
Certificat d'examen de type CE).
– Seuls des conducteurs simples/fils souples de 0,2 mm
connectés aux borniers.
Mise au rebut adéquate de l'instrument
– Lorsque l'instrument n'est plus utilisé, respectez toutes les réglementations locales en matière
d'environnement pour le mettre au rebut comme il convient.
1.4
Introduction et principe de mesure
Le GPro 500 TDL est un instrument optique de précision conçu pour mesurer le gaz en continu, in situ
ou par échantillonnage, au moyen de la spectroscopie d'absorption par diode laser ajustable (TDLS). Le
GPro 500 TDL est une solution flexible et performante, livrée avec des raccords procédé optimisés pour
chaque application. Pour les applications in situ, des sondes avec purge standard, des sondes wafer
avec purge, des sondes sans purge (avec ou sans filtre à particules intégré) et des sondes wafer (W)
avec filtre sont employées. Pour les échantillonnages, différentes cellules sont disponibles.
Lorsque le dispositif est installé en dehors du domaine d'application
de la directive 94/CE, il convient de respecter les normes
et réglementations appropriées dans le pays où il est utilisé.
Toute utilisation non conforme aux dispositions décrites dans le présent
manuel ou toute modification non homologuée du produit est interdite.
L'installation doit être réalisée exclusivement par des membres du
personnel formés, suivant le manuel d'instruction et conformément
aux normes et aux réglementations applicables.
La tension de l'alimentation externe utilisée pour alimenter
la tête de l'analyseur TDL ne doit pas dépasser 24 V CC et
sa puissance nominale doit être comprise entre 5 et 60 W.
Pour les applications in situ qui utilisent la sonde avec purge standard ou la
sonde wafer, il est important que le gaz de procédé s'écoule au niveau du point
de mesure pour obtenir des performances de mesure fiables. Pour en savoir
plus, reportez-vous au chapitre 2.2 (Conditions de débit au point de mesure),
page 28, et au chapitre 3.1.2 (Purge côté procédé), page 31. (Les sondes sans
purge et les cellules pour échantillonnage ne sont pas concernées.)
AVERTISSEMENT
AVERTISSEMENT
AVERTISSEMENT
²
²
à 1,5 mm
AVERTISSEMENT
(AWG 24-16) peuvent être
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