Chauvin Arnoux C.A 6545 Notice De Fonctionnement page 192

 Tiempo de establecimiento típico de la medida en función de los elementos probados (U
= 0,03 U )
n
Estos valores incluyen las infl uencias debidas a la carga del componente capacitivo, al sistema de
gama automática y a la regulación de la tensión de prueba.
Tensión de
prueba
500 V
1.000 V
2.500 V
5.000 V
 Tiempo de descarga típica de un elemento capacitivo para alcanzar 25 Vcc
Tensión inicial
Tiempo de descarga (C en µF)
 Curva de evolución típica de las tensiones de prueba en función de la carga
V
600
500
400
300
200
100
0
0,01
No capacitivo
Carga
(medida sin fi ltrado)
1 M 
100 G 
1 M 
100 G 
3 M 
100 G 
5 M 
100 G 
500 V
C x 3 s
Rango 500 V
0,1
192
Con capacidad de 1 µF
(medida fi ltrada)
3 s
8 s
3 s
8 s
3 s
8 s
4 s
8 s
1.000 V 2.500 V
C x 4 s C x 4 s
dist
4s
40 s
4 s
80 s
4 s
90 s
16 s
120 s
5.000 V
C x 7 s
M 
1