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auch der Netzstecker des Testobjektes zu ziehen. Damit
wird sichergestellt, dass eine Verbindung zwischen Oszil-
loskop und Testobjekt über den Schutzleiter vermieden
wird. Sie hätte falsche Testergebnisse zur Folge.
Nur entladene Kondensatoren dürfen getestet werden!
Das Testprinzip ist von bestechender Einfachheit. Ein im HM400 inte-
grierter Sinusgenerator erzeugt eine Sinus spannung, deren Frequenz
50 Hz (±10%) beträgt. Sie speist eine Reihenschaltung aus Prüfobjekt
und eingebautem Widerstand. Die Sinusspannung wird zur Horizontal-
ablenkung und der Spannungsabfall am Widerstand zur Vertikalab-
lenkung benutzt.
Ist das Prüfobjekt eine reelle Größe (z.B. ein Widerstand), sind beide
Ablenkspannungen phasengleich. Auf dem Bildschirm wird ein mehr
oder weniger schräger Strich dargestellt. Ist das Prüfobjekt kurzge-
schlossen, steht der Strich senkrecht. Bei Unterbrechung oder ohne
Prüfobjekt zeigt sich eine waagerechte Linie. Die Schrägstellung des
Striches ist ein Maß für den Widerstandswert. Damit lassen sich ohm-
sche Widerstände zwischen 20Ω und 4,7kΩ testen.
Kondensatoren und Induktivitäten (Spulen, Drosseln, Trafowicklungen)
bewirken eine Phasendifferenz zwischen Strom und Spannung, also
auch zwischen den Ablenk spannungen. Das ergibt ellipsenförmige
Bilder. Lage und Öffnungsweite der Ellipse sind kennzeichnend für den
Scheinwiderstandswert bei einer Fre quenz von 50 Hz. Kondensatoren
werden im Bereich 0,1 μF bis 1000 μF angezeigt.
–
Eine Ellipse mit horizontaler Längsachse bedeutet hohe Impedanz
(kleine Kapazität oder große Induk ti vität).
–
Eine Ellipse mit vertikaler Längsachse bedeutet niedrige Impedanz
(große Kapazität oder kleine Induk tivität).
–
Eine Ellipse in Schräglage bedeutet einen relativ großen Verlust-
widerstand in Reihe mit dem Blind widerstand.
Bei Halbleitern erkennt man die spannungsabhängigen Kennlinien-
knicke beim Übergang vom leitenden in den nichtleitenden Zustand.
Soweit das spannungsmäßig möglich ist, werden Vorwärts- und
Rückwärts-Charakteristik dargestellt (z.B. bei einer Z-Diode unter ca.
9 V). Es handelt sich immer um eine Zweipol-Prüfung; deshalb kann z.B.
die Verstärkung eines Transistors nicht getestet werden, wohl aber die
einzelnen Übergänge B-C, B-E, C-E. Da der Teststrom nur einige mA
beträgt, können die einzelnen Zonen fast aller Halbleiter zerstörungsfrei
geprüft werden. Eine Bestimmung von Halbleiter-Durchbruch- und
Sperrspannung > ca. 9 V ist nicht möglich. Das ist im Allgemeinen kein
Nachteil, da im Fehlerfall in der Schaltung sowieso grobe Abweichun-
gen auftreten, die eindeutige Hinweise auf das fehlerhafte Bauelement
geben. Recht genaue Ergebnisse erhält man beim Vergleich mit sicher
funktionsfähigen Bauelementen des gleichen Typs und Wertes. Dies gilt
insbesondere für Halbleiter. Man kann damit z.B. den kathodenseitigen
Anschluss einer Diode oder Z-Diode mit unkenntlicher Bedruckung, die
Unterscheidung eines p-n-p-Transistors vom komple men tären n-p-n-
Typ oder die richtige Gehäuseanschluss folge B-C-E eines unbekannten
Transistortyps schnell ermitteln.
Zu beachten ist hier der Hinweis, dass die Anschlussumpolung eines
Halbleiters (Vertauschen von COMP. TESTER-Buchse mit Masse-Buch-
se) eine 0 Drehung des Testbilds um 180° um den Rastermittelpunkt
der Bildröhre bewirkt. Wichtiger noch ist die einfache Gut-/Schlecht-
Aussage über Bauteile mit Unterbrechung oder Kurzschluss, die im
Service-Betrieb erfahrungsgemäß am häufi gsten benötigt wird.
Die übliche Vorsicht gegenüber einzelnen MOS-Bau-
elementen in Bezug auf statische Aufl adung oder
Reibungselektrizität wird dringend angeraten. Brumm
kann auf dem Bildschirm sichtbar werden, wenn der
STOP
Basis- oder Gate-Anschluss eines einzelnen Transistors
offen ist, also gerade nicht getestet wird (Handempfi nd-
lich keit).
B e d i e n e l e m e n t e
Tests direkt in der Schaltung
Sie sind in vielen Fällen möglich, aber nicht so eindeutig. Durch
Parallelschaltung reeller und/oder komplexer Größen – besonders
wenn diese bei einer Frequenz von 50 Hz relativ niederohmig sind –
ergeben sich meistens große Unterschiede gegenüber Einzelbauteilen.
Hat man oft mit Schaltungen gleicher Art zu arbeiten (Service), dann
hilft auch hier ein Vergleich mit einer funktionsfähigen Schaltung. Dies
geht sogar besonders schnell, weil die Vergleichsschaltung gar nicht
unter Strom gesetzt werden muss (und darf!). Mit den Testkabeln sind
einfach die identischen Messpunkt paare nacheinander abzutasten
und die Schirmbilder zu vergleichen. Unter Umständen enthält die
Testschaltung selbst schon die Vergleichsschaltung, z.B. bei Stereo-
Kanälen, Gegen taktbetrieb, symmetrischen Brücken schal tungen. In
Zweifelsfällen kann ein Bauteilanschluss einseitig abgelötet werden.
Genau dieser Anschluss sollte dann mit der COMP. TESTER-Prüfbuchse
ohne Massezeichen verbunden werden, weil sich damit die Brummein-
streuung verringert. Die COMP. TESTER-Prüfbuchse mit Massezeichen
liegt an Oszilloskop-Masse und ist deshalb brumm-unempfi ndlich.
Bedienelemente
1
POWER
Netz-Tastenschalter mit Symbolen für Ein (I)- und Aus (O)-Stellung.
Wird das Oszilloskop eingeschaltet, leuchten zunächst alle LED-An-
zeigen auf und es erfolgt ein automatischer Test des Gerätes. Wenn
alle Testroutinen erfolgreich beendet wurden, schaltet das Oszilloskop
in den Normalbetrieb. Im Normalbetrieb werden dann alle vor dem
Ausschalten gespeicherten Einstellungen übernommen.
2
ADJUST – / +
Taste ermöglicht die Änderung diverser Einstellungen je nach Auswahl
4
mit der Taste SELECT
.
3
Anzeige LEDs
INTENS: Anzeige leuchtet, wenn mit der Taste SELECT
keitseinstellung (Intensität) für den Kathodenstrahl ausgewählt wurde.
In dieser Stellung wirken die Tasten ADJUST – / +
für die Strahlintensität (Helligkeit) der Signaldarstellung. Es sollte
immer nur die gerade benötigte Strahlhelligkeit eingestellt werden.
Sie hängt von Signalparametern, Oszilloskop-Einstellungen und der
Umgebungshelligkeit ab.
FOCUS: Anzeige leuchtet, wenn mit der Taste SELECT
schärfeeinstellung (Fokus) für den Kathodenstrahl ausgewählt wurde.
Die FOCUS-Einstellung (Strahlschärfe) ist für die Signaldarstellung
wirksam. Mit höherer Strahlintensität wird der Strahldurchmesser
größer und die Strahlschärfe nimmt ab, was in einem gewissen Maße
mit dem Einsteller korrigierbar ist. Die Strahlschärfe hängt auch davon
ab, an welcher Stelle des Bildschirmes der Strahl auftrifft. Bei optimaler
Strahlschärfe in Bildschirmmitte nimmt die Strahlschärfe mit zuneh-
mendem Abstand von der Bildschirmmitte ab. Die Strahlschärfe sollte
für die Signaldarstellung optimal eingestellt werden. Anschließend kann
die Strahlschärfe durch weniger Intensität verbessert werden.
1
2
3
4
ADJUST
SELECT
POWER
POWER
!
INTENS
+
+
FOCUS
TRACE
SAVE
push long
RECALL
POSITION 1
POSITION 2
1
1–6
CH1
CH1
AUTOSET
2
CH2
CH2
5
6
7
5
4
die Hellig-
2
als Einsteller
4
die Strahl-
8
11
HM400
40 MHz ANALOG OSCILLOSCOPE
AUTO
TRIGGER
TRIG'd
X-POSITION
LEVEL
NORM
SLOPE
X-MAG
x10
9 10
12 13
17
Änderungen vorbehalten
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