Rockwell Automation Allen-Bradley 1336 IMPACT Manuel De Référence Technique page 156

5-4 Compréhension de la procédure de réglage automatique
1336 IMPACT-5.6 – Décembre, 1999
Diag Onduleur 1 (paramètre 174) est défini comme suit :
Quand ce bit
est mis à (1) :
0 Un défaut logiciel s'est produit.
Il n'y a pas de moteur connecté, ou un fusible de bus est
1
coupé.
2 Les phases U et W sont en court-circuit.
3 Les phases U et V sont en court-circuit.
4 Les phases V et W sont en court-circuit.
5 Il y a des modules en court-circuit.
6 Un défaut de terre s'est produit.
7 Un défaut est survenu avant que le module soit commandé.
8 Un défaut de surtension s'est produit.
9 Un défaut de démagnétisation s'est produit.
10 Un défaut de terre s'est produit.
11 Un défaut surintensité phase s'est produit.
12 Il y a un ou plusieurs transistor(s) de puissance ouvert(s).
13 Il y a des défauts de retour de courant.
Les bits 14 et 15 sont réservés.
Diag Onduleur 2 (paramètre 175) est défini comme suit :
Quand ce bit
est mis à (1) :
0 Le transistor voie haute U est en court-circuit.
1 Le transistor voie basse U est en court-circuit.
2 Le transistor voie haute V est en court-circuit.
3 Le transistor voie basse V est en court-circuit.
4 Le transistor voie haute W est en court-circuit.
5 Le transistor voie basse W est en court-circuit.
Le décalage du retour de courant de la phase U est trop
6
grand.
Le décalage du retour de courant de la phase W est trop
7
grand.
8 Le transistor voie haute U est ouvert.
9 Le transistor voie basse U est ouvert.
10 Le transistor voie haute V est ouvert.
11 Le transistor voie basse V est ouvert.
12 Le transistor voie haute W est ouvert.
13 Le transistor voie basse W est ouvert.
14 Le retour de courant de la phase U est ouvert.
15 Le retour de courant de la phase W est ouvert.
Si n'importe quel défaut du matériel se produit pendant le test de transistor
ouvert, alors ce qui suit se produira :
• Le défaut du matériel est sauvegardé.
• Un défaut entre phases est validé.
Alors :
Alors :