Chauvin Arnoux C.A 6545 Notice De Fonctionnement page 90

Typische Stabilisierungszeit des Messwertes je nach geprüfter Isolation (U
Diese Werte beinhalten die Einflüsse der kapazitiven Ladung des Prüflings , der automatischen
Messbereichswahl und der Einregelung der Prüfspannung
Prüfspannung
500 V
1000 V
2500 V
5000 V
Typische Entladezeit des Prüfkreises auf max. 25V
Prüfspannung
Entladezeit (C in µF)
Typischer Verlauf der Prüfspannung in Abhängigkeit von der Last
V
600
500
400
300
200
100
0
0,01
V
1200
1000
800
600
400
200
0
0,1
Last Nicht kapazitiv
(Messung nicht geglättet)
1 MΩ
100 GΩ
1 MΩ
100 GΩ
3 MΩ
100 GΩ
5 MΩ
100 GΩ
DC
500 V 1000 V
C x 3 s C x 4 s
Prüfspannung 500 V
0,1
Prüfspannung 1000 V
90
= 0,03 U
dist
Mit Kapazität von 1 µF
(geglättete Messung)
3 s 4 s
8 s 40 s
3 s 4 s
8 s 80 s
3 s 4 s
8 s 90 s
4 s 16 s
8 s 120 s
2500 V
C x 4 s
1 MW
1 MW
)
n
5000 V
C x 7 s