Détection Des Erreurs Pour Sorties - Siemens SIMATIC S5 Manuel

Détection des
Le tableau ci-dessous précise le moment de détection d'une erreur pour les types de
erreurs pour sorties sorties TOR 10 et 11.
TOR
Erreur
1. Collage à 1 de la carte ST si MIS inter-
mittente
2. Collage à 1 de la carte ST si MIS = 0
3. Collage à 1 de la carte ST si MIS = 1
4. Collage à 0 de la carte ST ou rupture
du câble de liaison de la carte ST si
MIS intermittente
5. Collage à 0 de la carte ST ou rupture
du câble de liaison de la carte ST si
MIS = 0
6. Collage à 0 de la carte ST ou rupture
du câble de liaison de la carte ST si
MIS = 1
7. Collage à 1 après la diode de décou-
plage (erreur ne peut être isolée auto-
matiquement) si MIS = 0.
8. Collage à 1 après la diode de décou-
plage (erreur ne peut être isolée auto-
matiquement) si MIS = 1.
9. Rupture de câble dans ou après la
diode de découplage si MIS intermit-
tente
10. Rupture de câble dans ou après la
diode de découplage si MIS = 0
11. Rupture de câble dans ou après la
diode de découplage (les câbles doi-
vent être redondants jusqu'à l'action-
neur et mener de l'actionneur à l'ET-R)
si MIS = 1
12. Court-circuit vers 0 après la diode de
découplage (erreur ne peut pas être si-
gnalée mais peut être localisée automa-
tiquement) si MIS = 1
TI = plus grande valeur de 2 * T
dépend de l'événement survenant en premier
*
1
répercussion courte sur le processus
(« court » signifie 1 * t
T = retard de rebouclage configuré
R
t = retard de rebouclage effectif
R
AP S5-155H
C79000-B8577-C197-06
Type 10
avec ET-R
après deux fronts montants
au plus tard après TI
par contrôle
après deux fronts montants ou
*
directement pendant le test ST-L
= toutes les 10 h (répercussion brève
de l'erreur sur le processus
par contrôle
pendant le test ST-L = toutes les 10 h
(répercussion brève de l'erreur sur le
1
processus )
au plus tard après TI
par contrôle
après deux fronts montants ou
*
directement après le test ST-L
= toutes les 10 h (répercussion brève
de l'erreur sur le processus
par contrôle
pendant le test ST-L = toutes les 10 h
(répercussion brève de l'erreur sur le
1
processus )
au plus tard après TI
et de 2 * temps de cycle de l'AP
R
+ 2 * base de temps d'alarme d'horloge, indépendamment du temps de cycle de l'AP)
R
Type 11
avec 3 ET-R
après deux fronts montants
au plus tard après TI
directement avant le test ST-L
= toutes les 10 h
après deux fronts montants ou
*
directement avant le test ST-L
= toutes les 10 h
1
)
par contrôle
directement avant le test ST-L = tou-
tes les 10 h
au plus tard après TI
par contrôle
après deux fronts montants ou
*
directement après le test ST-L
= toutes les 10 h (répercussion brève
1
) de l'erreur sur le processus
par contrôle
pendant le test ST-L = toutes les 10 h
(répercussion brève de l'erreur sur le
1
processus )
au plus tard après TI
1
)
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