Table des Matières
Publicité
2.5
Autotest et
La haute disponibilité de l'automate S5-155H est essentiellement réalisée grâce à la
disponibilité
pluralité des voies, accompagnée d'un délai bref entre l'apparition d'une erreur et sa
réparation. Si l'on considère qu'un appareil n'est disponible que s'il se trouve dans
l'état de « fonctionnement sans erreur », on comprend que l'autotest augmente la
disponibilité d'un système H (figure 2-4).
Le schéma et la formule montrent que l'autotest augmente la disponibilité de l'auto-
mate programmable. La durée pendant laquelle l'automate fonctionne en présence
d'une erreur est réduite à un minimum.
Figure 2-4
La priorité pour un système H est la détection et la localisation des erreurs qui est
nécessaire au contrôle des erreurs. Les programmes d'autotest dans l'AP S5-155H
s'exécutent dans les deux CPU ; ils détectent et localisent les défaillances matériel-
les en peu de temps et avec un minimum de programmation. Il suffit pour la locali-
sation d'erreurs de déterminer quelles cartes sont défaillantes et doivent être rempla-
cées.
Stratégie pour
Différents programmes d'autotest sont exécutés dans les différents états de
l'autotest
fonctionnement de l'automate S5-155H.
AP S5-155H
C79000-B8577-C197-06
2
1
MTBF
1
1
MTTR
3
Taux d'erreur = 1/MTBF
Taux de réparation = 1/MTTR
Taux de détection d'erreur = 1/MFDT,
Signification de l'autotest pour la disponibilité
Autotest à la mise en route
La fonction d'autotest est exécutée dans son intégralité lors de la mise en route
d'un châssis de base. Si une erreur est décelée à ce stade, la CPU passe à l'arrêt
(STOP). Un message d'erreur est consigné dans le bloc de données d'erreurs.
Comme le test à la mise en route dure plus d'une seconde, il peut être sauté lors
d'un redémarrage du maître (
Durant l'autotest à la mise en route, les DEL RUN et STOP en face avant sont
allumées en feu fixe. L'autotest est toujours exécuté dans son intégralité quel que
soit le mode de mise en route.
Fonctions spécifiques des systèmes H
Disponibilité pour l'état
« Fonctionnement sans erreur » :
D =
1
MTBF + MTTR + MFDT
MFDT
Etat
Signification
1
Fonctionnement sans erreur
2
Fonctionnement avec erreur
3
Défaillance
MFDT = T/2 (T= cycle d'autotest)
octet de commande de mémentos H).
MTBF
I/2-11
Publicité
Chapitres
Table des Matières
