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Test des circuits
Pour chaque octet d'entrée ou de sortie TOR redondant qui doit faire l'objet non
de localisation
seulement d'une détection d'erreur, mais encore d'une localisation de l'erreur, vous
devez configurer une autre entrée et une autre sortie TOR. Comme ces entrées et
sorties servent à la localisation de l'erreur, elles sont désignées par entrées TOR de
localisation (ET-L) et sorties TOR de localisation (ST-L) (figures 4-4, 4-5 et 4-9 à
4-12).
Ces ET-L et ST-L configurées pour des entrées TOR (ET) et des sorties TOR (ST)
redondantes constituent le circuit de localisation (CL). Le CL est testé une fois tou-
tes les 10 heures.
Le circuit de localisation des ET redondantes est testé pour déceler les collages à 0
et, uniquement à la mise en route, les collages à 1.
Le circuit de localisation des ST redondantes est également contrôlé toutes les 10
heures quant aux collages à 0 et à 1.
En présence d'une erreur révélée lors de la comparaison des RAM (seuls sont com-
parés les blocs valables) qui ne peut pas être affectée à l'AP A ou à l'AP B, la ré-
serve passe en mode de recherche d'erreurs. Ce mode est également activé en cas de
détection d'une divergence lors de la comparaison des mémoires image des sorties.
Dans ce mode, l'autotest est exécuté dans son intégralité ; il dure environ 10 à 30
secondes.
Exemple
A la fin de chaque cycle, les deux sous-systèmes échangent et comparent leur mé-
moire image des sorties (MIS). Si la comparaison révèle une différence entre les
MIS, les deux sous-systèmes effectuent d'abord un test pour déceler un collage à 0
ou un collage à 1 de la cellule de mémoire. S'il y a une erreur de collage à 0 ou à 1,
seul le sous-système défectueux se met à l'arrêt.
Si l'erreur ne peut être localisée, l'AP S5-155H continue à fonctionner selon la réac-
tion définie (
tion »). Si la réaction « 0 » a été configurée, la réserve passe en mode « recherche
d'erreurs ». Le maître continue à fonctionner en « marche dégradée ».
Si l'autotest localise l'erreur dans la réserve, cette dernière se met à l'arrêt. Dans le
cas contraire, il y a réaccouplement de la réserve et commutation maître-réserve :
l'ancien sous-système réserve devient maître, et vice-versa. On se retrouve en situa-
tion de marche normale. Si une erreur se représente à nouveau à la comparaison, la
nouvelle réserve passe à son tour en mode « recherche d'erreurs » tandis que le nou-
veau maître continue à fonctionner en marche dégradée.
Si l'autotest localise l'erreur dans la nouvelle réserve, celle-ci passe à l'arrêt avec
émission d'un message d'erreur. Si l'autotest ne localise pas non plus d'erreur dans
la nouvelle réserve, cette dernière se met à l'arrêt avec émission du message d'er-
reur « Erreur non localisable » si la deuxième erreur à la comparaison s'est présen-
tée en l'espace d'un cycle de test.
AP S5-155H
C79000-B8577-C197-06
Fonctions spécifiques des systèmes H
COM 155 H, paragraphe 3.2, « Paramétrage du système d'exploita-
I/2-13
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