Chauvin Arnoux C.A 6545 Notice De Fonctionnement page 24

„ Précision
Tension d'essai
Domaine de mesure spécifié
Résolution
Précision
Tension d'essai
Domaine de mesure
spécifié
Résolution
Précision
„ Précision en mode variable
A interpoler entre les valeurs du tableau ci-dessus et selon § 7.2.2
„ Mesure de la tension DC pendant l'essai d'isolement
Domaine de mesure spécifié
Résolution
Précision
„ Mesure de la tension DC pendant la phase de décharge de l'essai d'isolement
Domaine de mesure spécifié
Résolution
Précision
„ Temps d'établissement typique de la mesure en fonction des éléments testés (U
Ces valeurs incluent les influences dues à la charge de la composante capacitive, au système de gamme automatique et à
la régulation de la tension d'essai.
Tension d'essai
500 V
1000 V
2500 V
5000 V
„ Temps de décharge typique d'un élément capacitif pour atteindre 25 V
Tension initiale
Temps de décharge (C en µF)
10...999 kΩ
1,000...3,999 MΩ
1 kΩ
500 V - 1000 V - 2500 V - 5000 V
400...999 MΩ
4,00...39,99
1,000...3,999
GΩ
GΩ
1 MΩ 10 MΩ
±5% + 3 pt
40,0...99,9 V
0,1 V
25...5100 V
0,2% Un
5% + 3 pt
Non capacitive
Charge
(mesure non lissée)
1 MΩ
100 GΩ
1 MΩ
100 GΩ
3 MΩ
100 GΩ
5 MΩ
100 GΩ
500 V
C x 3 s
500 V - 1000 V - 2500 V - 5000 V
4,00...39,99 MΩ
10 kΩ
±5% + 3 pt
400...999 GΩ
40,0...399,9
1,000...1,999
GΩ
100 MΩ
100...1500 V
1 V
1% + 1 pt
Avec capacité de 1 µF
(Mesure lissée)
3 s
8 s
3 s
8 s
3 s
8 s
4 s
8 s
dc
1000 V 2500 V
C x 4 s C x 4 s
24
40,0...399,9 MΩ
100 kΩ
1000 V - 2500 V
5000 V
2,000...
3,999 TΩ
TΩ
1 GΩ
±15% + 10 pt
1501...5100 V
= 0,03 U )
dist n
4s
40 s
4 s
80 s
4 s
90 s
16 s
120 s
5000 V
C x 7 s
2500 V
5000 V
4,00...
9,99 TΩ
10 GΩ
2 V