Table des Matières
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1
Banque de notes : Détermine la banque de notes à laquelle l'échantillon souhaité
est affecté, en spécifiant le numéro de la forme d'onde appropriée (001 – 128). Les
plages de notes et de vélocité de la banque de notes à laquelle la forme d'onde
sélectionnée est affectée apparaissent automatiquement sous le numéro de la forme
d'onde concernée.
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2
Lowest Key : Indique le numéro de la note inférieure à partir duquel les échantillons
découpés en tranches sont attribués dans l'ordre. Réglages : C -2 – G8
-
Note : Dans l'écran Record Slice (Tranche d'enregistrement) du mode Sampling
Record (page 208), ce paramètre est défini respectivement sur « C1 » pour le MOTIF
XF6, sur « E0 » pour le MOTIF XF7 et sur « A-1 » pour le MOTIF XF8 et ne peut pas
être réglé.
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3
Type (Type de tranche) :
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4
Measure
-
5
Meter
-
6
Sub Divide (Sous-division)
-
7
Sens
-
8
Tempo
À l'exception du paramètre Lowest Key, tous les paramètres et les réglages sont identiques
à ceux de l'écran Record Slice du mode Sampling Record (page 208), qui apparaît après
l'exécution de l'échantillonnage avec le paramètre Type réglé sur « slice+seq ».
AVIS
L'exécution de la tâche se déroule en deux étapes : conversion temporaire des données via
la touche [SF4] Apply et saisie effective des données via la touche [ENTER]. Le résultat de
la tâche sera perdu si vous appelez un autre écran avant de finaliser les données à l'aide de
la touche [ENTER].
4.6.2.5.3 [F2] Waveform Job (Tâches de forme d'onde)
Cet écran contient les tâches destinées à l'édition des formes d'onde.
01: Copy
Cette tâche vous permet de copier les données d'une forme d'onde vers une autre. Les
banques de notes et les échantillons inclus dans la forme d'onde sont également copiés par
cette tâche.
Motif XF - Aide mémoire d'utilisation
Décembre 2014
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