Elcometer 415 Guide D'utilisation page 87

6 统计
在采 个读 时, Elcometer 415计算并显示
读 目 (n:)

平 读 (

读 (Lo:)

读 (Hi:)

要显示或隐 屏幕上的统计 据,
要清除当前的统计值,
蜂鸣声和统计 重 为 .
7 仪
调整是在设 仪 厚 的已知值的过程,
状和 面光洁 的
选择的 调整
在 铁基和 铁基金属 面测量光 涂层, 两个
和平 .
平
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:)
X
住 '
性.
决于要测量基体的状态. 由于易 415是专门用于
图标 描述
一个简单的
头
也
这是一个
为 需要用户使用已知厚 的膜片和未涂覆基
体
' ' 键.
' 键约3 钟(显示统计时). 该仪
用于
在 涂层金属上, 仪
为单点
更精
仪 .
统计值:
保在不同基体类型, 形
可供选择; 点
光 基体. 只需
相应调整
.
仪 的
R
发
.
,
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