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2.2. T
RAME DES RESULTATS
1
2
3
4
[
x
x
]
N° de
séquence
Colonnes de 22 à 40 pour tout type de test
22
23
24
25
:
x
x
Colonnes de 21 à 40 pour un test de puissance avec mesure de déphasage
22
23
24
25
:
x
x
Messages émis sur le port série.
• Etats
- R1
- R2
- R12
- PB
- AL
• Résultats
- Résist. infinie
- EEEE
- Court circuit,
- ERROFF
• Horodatage
Si cette fonction est activée :
chaque trame de test est suivie de la date et de l'heure avec le format suivant :
1
2
3
4
D
a
t
e
21
22
23
24
H
e
u
r
0105/UM-39301B-F
5
6
7
8
x
x
.
Conditions de tests
26
27
28
29
x
x
.
x
Résultat
26
27
28
29
x
x
.
x
Résultat
⇒ rejet 1, conditions de tests mauvaises
⇒ rejet 2, valeur en dehors des seuils de rejets
⇒ rejet 1 et rejet 2
⇒ pièce bonne
⇒ alarme (type de test non défini, court circuit)
⇒ dépassement d'échelle (Résistance d'Isolement : Pièce Bonne)
⇒ dépassement d'échelle
⇒ erreur d'offset de continuité de terre (paramètre offset est trop élevé, le
résultat est négatif)
5
6
7
8
:
J
25
26
27
28
e
:
H
9
10
11
12
x
x
x
31
32
33
34
35
x
x
x
x
Unité
m
o
h
m
m
A
M
o
h
m
G
o
h
m
A
31
32
33
34
W
x
Unité
Résultat
9
10
11
12
13
J
/
M
M
29
30
31
32
33
H
:
M
M
Chapitre 6 Messages afficheurs
13
14
15
16
17
x
x
*
Unité
A
k
V
V
36
37
38
39
x
x
x
35
36
37
38
39
x
x
d
e
14
15
16
17
/
A
A
34
35
36
37
:
S
S
Manuel d'utilisation ATEQ EP2P Page 66/74
18
19
20
21
:
x
x
x
Etat
P
B
R
1
R
2
R
1
2
40
x
40
g
18
19
20
38
39
40
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