Waters 2414 Manuel De L'utilisateur page 23

Effet de la réfraction sur φ
Lors de son parcours le long du chemin optique de la photodiode, le faisceau
lumineux rencontre et est réfracté par plusieurs éléments : l'air dans le banc
optique, les parois de quartz fondu de la cuve de circulation, le solvant présent
dans le compartiment de référence de la cuve de circulation et la solution pré-
sente dans le compartiment à échantillon de cette même cuve.
Or, parmi ces réfracteurs, seule la solution placée dans le compartiment à
échantillon de la cuve de circulation change pendant une analyse. Il en résulte
que l'angle externe de déflexion φ de référence change uniquement lorsqu'une
modification de l'indice de réfraction de l'échantillon entraîne une déviation
du faisceau lumineux de sa position d'origine.
La relation entre l'angle externe de déflexion φ et l'indice de réfraction IR de la
solution échantillon peut s'écrire :
Δn ≅ φ/tanθ
où
Δn est la différence d'indice de réfraction entre le solvant de référence et
la solution échantillon-solvant
φ est l'angle externe de déflexion, en radians
θ est l'angle d'incidence, en radians
Effet de la réfraction sur le signal émis par la photodiode
La variation de l'angle φ détermine le décalage Δx du faisceau lumineux
sur la photodiode. Le Détecteur 2414 étant équipé d'un banc optique à double
passage, le faisceau lumineux traverse deux fois la cuve de circulation avant
d'atteindre la photodiode et le décalage de l'image est multiplié par deux.
La relation entre le décalage de l'image Δx sur la photodiode du
Détecteur 2414 et la variation d'indice de réfraction de la solution s'écrit :
Δx = 2Y(tanθ) Δn
où
Δx est la valeur du décalage de l'image sur la photodiode
Y est la distance entre la cuve de circulation et la photodiode
θ est l'angle d'incidence
Δn est la différence d'indice de réfraction entre le solvant de référence et
la solution d'échantillon
Principes de fonctionnement 1-9