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Le MFT-X1 a une limite de 1 000 mA quel que soit le test sélectionné. Avec certains DDR à courant plus élevé, en
particulier les DDR de type A ou B, la gamme de tests que vous pouvez effectuer est limitée. Par exemple, le MFT-X1
ne peut pas effectuer de tests 5 x I sur les DDR d'une valeur nominale de 300 mA ou plus, car cela nécessiterait un
courant d'essai de 5 x I soit 5 x 300 mA = 1 500 mA, ce qui dépasse la limite de 1 000 mA. Le schéma ci-dessous
montre les combinaisons type de DDR / courant de test qui sont prises en charge et celles qui ne le sont pas. Si vous
essayez de sélectionner une combinaison non prise en charge, ce diagramme s'affiche automatiquement sur l'écran
de l'appareil en guise de rappel.
Fig. 42 : Diagramme des combinaisons test / type / valeur nominale autorisées
13.1.3 À propos des tests de DDR
Pour tous les tests, l'appareil fait circuler un courant entre la phase et la terre du côté de la charge du circuit protégé
par le DDR testé. Cela simule l'effet d'un défaut de fuite à la terre. Lorsqu'un tel défaut se produit, le courant de fuite
à la terre crée un déséquilibre entre les courants des conducteurs de phase et neutre qui traversent les bobines de
détection (A) et (B) du DDR. Cela signifie qu'une partie du courant de la phase retourne par le chemin de terre et non
par le neutre. Lorsque ce déséquilibre est supérieur à la sensibilité (valeur nominale) du DDR, celui-ci se déclenche et
déconnecte le circuit qu'il protège.
Fig. 43 : Circuit DDR simplifié
13.1.4 Test ½ x I
Pour ce test, l'appareil utilise un courant égal à la moitié de la valeur nominale (½ x I) du DDR testé. Ce courant
est appliqué pendant 2 secondes et le DDR ne doit pas se déclencher pendant ce temps. Si le test de DDR est
réussi, l'écran affiche > 1 999 ms. Pour les exigences européennes, la durée maximale du test peut être réglée
sur 500 ms lors de la configuration. Voir 15.9.5 Durée maximale de test ½ x I page 92. Si le disjoncteur se
déclenche pendant le test, ce qui peut indiquer qu'il est trop sensible, le test s'arrête et l'écran affiche le temps de
déclenchement réel.
13.1.5 Test 1 x I
Pour ce test, l'appareil utilise un courant égal à la valeur nominale (1 x I) du DDR testé. Le DDR doit se déclencher
dans un délai de 300 ms pour les dispositifs conformes à la norme CEI 61008/9, et dans un délai de 200 ms pour
les dispositifs plus anciens conformes aux anciennes normes britanniques telles que ac BS7288. Lorsque le DDR se
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Test de dispositif à courant différentiel résiduel (DDR)
MFT-X1
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