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Système de mesure de l'exposition
•
Trois systèmes de mesure sont proposés pour
l'analyse
de la lumière
de
votre
sujet.
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Tout
en pressant son
déverrouillage,
tournez le sélecteur
du système de mesure
pour sélectionner
la mesure la
mieux adaptée
à
l'éclairage de votre
sujet.
•
Des systèmes de mesure peuvent être incompatibles avec certains objectifs
(page
33)
• Les systèmes de mesure et leurs caractéristiques sont les suivants:
8
: Mesure Matricielle/Mesure Matricielle 30
Ce système garantit
un
contrôle correct
de l'exposition
à
l'aide
d'un
capteur
matriciel
à
10
segments.
Avec les
objectifs
Nikko de
type
D,
la
mesure matricielle 3D est
automatiquement
activée. Cette mesure
ut
ilise
en
plus des données de luminosité et de
contraste
de
la scène,
l'information
de distance du
sujet
pour
contrôler encore
plus précisément l'exposition. Il
est conseillé
d'utiliser la mesure pondérée
centrale
ou
la
mesure
spot avec
la mémorisation de l'exposition auto
(page
54)
ou
la
correction d'exposition
(page
56).
Œl: Mesure pondérée centrale
0
Ce système concentre
une
grande partie
de
sa sensibilité sur la luminosité
du
cercle de
12mm de diamètre
au centre du
viseur.
Il s'avère
utile
lorsque
vous souhaitez
baser
l'exposition sur une
zone
spécifique
de
la
scène.
8:
Mesure spot
.-----------------~
0
Pratiquement 100% de
la
sensibilité de la mesure est concentrée sur
le
cercle de 4mm de diamètre (environ
1%
du cadre de visée) de la zone de
mise au point sélectionnée. utilisez cette mesure
lorsque
vous souhaitez
baser
l'exposition
sur
un
point très précis de la vue
comme
en cas de
contre-jour ou de scènes
à
faible contraste. Avec la mesure
spot,
le
changement de zone de mise au point déplace également la zone de
mesure sur le
collimateur
sélectionné. Cependant, la zone de mesure spot
restera au centre (c-à-d; ne se décalera pas) si le mode AF dynamique
à
priorité au
sujet
le
plus proche
(page
39) est activé ou en cas
d'utilisation
d'un objectif sans microprocesseur
(page
32).
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