Table des Matières
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Fonctions de test
C.1.2
Tests individuels
Mémoires internes/
Les cartes de mémoire de l'OP sont contrôlées par des tests d'écriture/de lecture.
externes
Si un défaut survient, l'adresse de mémoire défectueuse est affichée sur l'écran.
Nota
Le contenu des mémoires SRAM, EEPROM et Flash est sauvegardé avant le test de
la mémoire DRAM. C'est pourquoi vous devriez tester d'abord la mémoire DRAM.
En cas de défaut, les données sauvegardées ne sont plus rechargées. Le contenu de
la mémoire testée est donc détruit. Il en est de même lors d'une coupure de courant.
Divers tests des mémoires:
K1
F9
F10
F11
F12
Le test de la mémoire Flash dure env. 2 minutes.
A la fin du test, vous pouvez soit recharger le contenu de la memoire Flash sauve-
gardé dans la mémoire DRAM, soit l'éliminer.
ACK
F13
L'interface du module de mémoire est testée (possible seulement si un module
SRAM de 512 Koctets est enfiché).
C-4
DRAM
EPROM
SRAM
EEPROM
Flash
recharger les données dans la mémoire Flash
éliminer les données
Test du Jeida
Manuel OP25, OP35, OP45
Edition 04/96
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