Table des Matières
Publicité
Diagnostics critiques
(conditions de défaillance)
Temperature Sensor NVM Corrupt
(Mémoire non volatile du capteur
de température corrompue)
Comm Module DAC Failure
(Défaillance du CNA du module
de communication)
Sensor open/short (Capteur
ouvert/en court-circuit)
2.2.3 Niveau d'intégrité de sécurité (SIL)
De par sa conception, le STT850 a pour but d'atteindre un niveau d'intégrité suffisant contre les
erreurs systématiques. Une fonction SIF (Safety Instrumented Function) conçue avec ce produit ne
doit pas être utilisée à un niveau SIL supérieur au point établi sans une preuve « d'utilisation
préalable » fournie par l'utilisateur final ou diverses redondances technologiques au niveau de
la conception. Reportez-vous au Manuel de sécurité du STT850, n° 34-TT-25-05 pour plus
d'informations.
Page 6
Manuel de l'utilisateur du transmetteur de température STT850
Diagnostics non critiques (conditions d'avertissement)
Sensor resistance high
(Résistance du capteur élevée)
No DAC Compensation (Pas
de compensation du CNA)
No Factory Calibration (Pas
d'étalonnage d'usine)
Local Display (Affichage local)
Low Supply Voltage (Tension
d'alimentation basse)
LRV – Bouton de configuration
de l'étendue)
Révision 1
Publicité
Table des Matières
