Copie(S) D'écran 32 : Top Et Bottom Enregistrés - Nikon Eclipse TE-2000E Manuel D'utilisation

Déroulement d'une session
17- Cliquez sur l'icône « Bottom »
*

A savoir / Notez-bien :
Pour s'assurer de collecter toute l'information en z de l'échantillon, vous pouvez définir le haut et le bas
de votre échantillon en les dépassant comme indiqué ci-dessous :
Distance entre 2 images =
Pas (Step) du stack
*
18- Dans le champ « Step  µm» (en dessous de l'icône « bottom »), entrez la valeur de l'intervalle que vous
souhaitez entre chaque image.
Pour un échantillonnage adapté, cliquez sur l'icône indiquant la valeur conseillée (juste à droite du champ
« Step  µm)
dans le champ « Step µm » sera mise à jour avec la valeur conseillée.
*

A savoir / Notez-bien :
La valeur conseillée varie en fonction de la profondeur de champ de l'objectif.
*
 | Version 2.2
Copie(s) d'écran 32 : Top et bottom enregistrés
Zone floue
Zone nette  Cette épaisseur représente la
profondeur de champ
Zone floue
Service Commun de Microscopie
Manuel d'Utilisation – Microscope Epifluorescence 1 – Nikon Eclipse TE-2000E
pour enregistrer la position.
. En cliquant sur cette icône, la valeur d'intervalle
Haut du stack
Haut de l'échantillon
Bas de l'échantillon
Bas du stack
Plan focal
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