Keysight Technologies Keysight 34450A Guide D'utilisation page 102

3 Didacticiel pour la réalisation de mesures
L'EMF thermique causé par des métaux distincts peut créer une tension parasite
dans le circuit de mesure (VEMF). L'EMF thermique peut être causé par des
cordons de connexions ou se produire en interne dans la résistance R. En général,
cette tension n'est pas modifiée par le courant appliqué à la résistance.
Multimètre
idéal
La tension mesurée, et donc la résistance calculée, est erronée à cause du VEMF.
L'utilisation de la compensation de décalage peut réduire les erreurs causées par
le VEMF. Pour effectuer une mesure compensée par décalage, le multimètre
effectue deux mesures de tension, l'une avec la source de courant activée, et
l'autre avec la source de courant désactivée, et soustrait les deux mesures. La
chute de tension effective dans la résistance et la résistance calculée sont
obtenues de la manière suivante :
1ère mesure - 2nde mesure = (I*R+V
La compensation de décalage peut être utilisée dans des mesures en ohms à 2 ou
4 fils (disponible uniquement pour 100 Ω, 1 000 Ω et 10 000 Ω).
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V EMF
E=IR+ VEMF
I=0
R
Multimètre
idéal
) -V = I*R
EMF EMF
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VEMF
E=(0*R)+ VEMF=
I=0
R
VEMF