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4.6
Ordre de chargement des plaquettes lors de la mesure
simultanée de différents éléments
NOTE
Vous pouvez mesurer n'importe quel ordre d'empilement des plaquettes. Cependant, veuil-
lez respecter les règles d'empilement de plaquettes recommandées ci-après. Sinon, l'analy-
seur risque d'utiliser des quantités excessives de pointes et de coupelles de recyclage.
(1) Mesure de plaquettes CRP et CM (colorimétrique)
Plaquette CM
図-4.5.2-1
(2) Mesure de plaquettes CM et ISE
Plaquette CM
図-4.5.2-1
(3) Mesure de plaquettes CRP, CM et ISE
図-4.5.2-4
(4) Mesure de plaquettes CM nécessitant une dilution
図-4.5.2-2
897N201058J Manuel d'instructions FDC NX700 2022.04
CRP
CRP
一般比色
電解質
ISE
一般比色
電解質
ISE
CRP
CRP
一般比色
Plaquette CM
5倍希釈
Dilution 5x
2倍希釈
Dilution 2x
4 Méthodes d'utilisation applicables
Placez toujours une plaquette CRP en premier ou
en dernier.
Si une plaquette CRP est chargée entre des pla-
quettes CM, une pointe supplémentaire sera utili-
sée.
Il est recommandé de charger une plaquette ISE en
dernier.
Si une plaquette ISE est mesurée en premier, la
mesure peut prendre plus de temps que prévu.
Si une plaquette CM est chargée après une pla-
quette ISE, une pointe supplémentaire sera utilisée.
Empilez les plaquettes CM avant les plaquettes
CRP et ISE.
Si les plaquettes sont configurées avec différents
taux de dilution, empilez-les de manière que les
plaquettes présentant le même facteur de dilution
soient mesurées les unes à la suite des autres.
Sinon, les pointes et des coupelles de mélange
supplémentaires seront utilisées.
NOTE
Si toutes les plaquettes CM possèdent le
même facteur de dilution, aucune restriction
ne sera définie pour l'ordre d'empilement.
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Dépannage
