Hioki IM7580A Manuel D'instructions page 4

Table des matières
4.8.4 Test de zone ...............................................113
4.8.5 Test de crête ...............................................117
4.8.6 Test de place ............................................. 121
4.9 Fonction d'analyse de circuit
équivalent ..................................... 126
4.9.1 Fonction d'analyse de circuit équivalent ..... 126
4.9.2 Configuration des réglages de base de
l'analyse .................................................... 127
4.9.3 Exécution de l'analyse de
circuit équivalent ........................................ 134
4.9.4 Simulation des caractéristiques de
fréquence .................................................. 137
4.9.5 Réglages pour tester les résultats
d'analyse ................................................... 139
Étalonnage et
5
compensation
5.1 Présentation de la fonction
d'étalonnage et de
compensation ............................... 141
5.2 Étalonnage .................................... 145
5.2.1 Réglage des conditions d'étalonnage et
exécution de l'étalonnage [CAL] ................. 145
5.3 Compensation d'erreur ................ 154
5.3.1 Réglage de la compensation de longueur
électrique [LENGTH] .................................. 154
5.3.2 Réglage des conditions de compensation
et exécution de la compensation
[COMPEN] ................................................. 155
5.4 Valeurs de calcul (Graduation) ... 161
Dépannage de la compensation ... 163
5.5
Fonction de mesure en
6
continu
6.1 Fonction de mesure en continu .. 165
6.2 Configuration des réglages de
base de mesure en continu ......... 168
6.3 Exécution et arrêt de la mesure
en continu ..................................... 169
6.4 Vérification des résultats de
mesure en continu ....................... 170
6.5 Annule la mesure lorsqu'une
erreur est détectée ....................... 171
Fonction d'application 173
7
7.1 Contrôle des défauts de contact
(Fonction de contrôle des
contacts) ....................................... 173
7.1.1 Réglage de la mesure DC .......................... 173
7.1.2 Réglage du test ......................................... 176
ii
7.1.3 Détection de OPEN lors de la mesure à 2
bornes (fonction de rejet Hi Z) .................... 178
7.1.4 Surveillance du niveau de détection
(fonction de surveillance du niveau de
détection) ................................................... 179
7.2 Autres fonctions ........................... 181
7.2.1 Définissez le nombre de chiffres affichés ... 181
7.2.2 Réglage de l'affichage de la valeur
absolue (LCR uniquement) ........................ 182
7.2.3 Réglage du type de données de mesure
de communication ...................................... 183
7.3 Fonctions communes (mode
LCR, mode ANALYZER) ............... 184
7.3.1 Enregistrement des résultats de mesure
(fonction de mémoire) ................................ 184
7.3.2 Réglage de l'affichage de l'écran ............... 186
7.3.3 Réglage du bip sonore ............................... 190
141
7.3.4 Affichez le message de préchauffage ........ 191
7.3.5 Désactivation des touches (Fonction de
verrouillage des touches) ........................... 192
7.3.6 Réglage du type de données de mesure
de communication ...................................... 196
7.3.7 Initialisation de l'appareil (réinitialisation
du système) ............................................... 198
Contrôle externe
8
8.1 Connecteur et signaux d'entrée/
sortie externes .............................. 201
8.2 Chronogramme .............................211
8.2.1 Mode LCR ..................................................211
8.2.2 Mode ANALYZER ...................................... 213
8.2.3 Mode de mesure CONTINUOUS ............... 215
8.3 Circuit interne ............................... 217
8.4 Contrôle externe Q&A .................. 220
Mesure à l'aide d'un ordinateur ... 220
165
8.5
8.6 Réglages I/O de contrôle
externes ........................................ 221
8.6.1 Activation de l'entrée de déclenchement
pendant la mesure
(déclenchement activé) .............................. 221
8.6.2 Réglage de la phase valide de l'entrée de
déclenchement
(phase de déclenchement) ......................... 222
8.6.3 Réglage de la réinitialisation des résultats
de test (réinitialisation du signal de
résultat de test) .......................................... 223
8.6.4 Réglage de la méthode de sortie EOM
(mode EOM) ..............................................224
8.6.5 Réglage du délai entre la génération
des résultats de test et d'EOM (LOW)
(JUDGE-EOM) ........................................... 226
8.6.6 D éfinissez un délai pour la génération du
signal INDEX (délai INDEX) ....................... 227
201