Réglage Du Délai Entre La Génération Des Résultats De Test Et D'eom (Low) (Judge-Eom) - Hioki IM7580A Manuel D'instructions

Réglages I/O de contrôle externes
8.6.5 Réglage du délai entre la génération des résultats de test et
d'EOM (LOW) (JUDGE-EOM)
Vous pouvez définir un délai entre la génération du résultat de test d'EXT I/O et d'EOM (LOW).
:IO:OUTPut:DELay
Consultez «
d'application de l'Analyseur d'impédance.
Fonction JUDGE EOM : OFF
TRIG
EOM
(Génération
des résultats du
Résultat de test
test)
précédent
ERR
3
Le clavier numérique
peut être utilisé pour la
saisie.
4
6
5
226
» dans les Commandes de communication sur le disque
Résultat de
test
1
Appuyez sur [SETUP].
1
2
2 Appuyez sur l'onglet
LCR.
Appuyez sur l'onglet
ANALYZER.
3
Appuyez sur
4
Réglez un délai JUDGE-EOM à partir de la
génération du résultat de test jusqu'à la
génération d'EOM (LOW) avec / ou avec le
clavier numérique.
(Avec le clavier numérique, appuyez sur [SET].)
5
Appuyez sur [RESET].
6
Choisissez de réinitialiser les résultats de test de
comparateur lorsque le signal passe à EOM (HIGH).
7
7
Appuyez sur
réglages.
Fonction JUDGE EOM : ON
TRIG
EOM
(Génération
des résultats du
Résultat de test
test)
précédent
ERR
[COMMON]
[ADVANCED]
[IO JUDGE].
de 0,00000 s à 0,99999 s
Gamme
réglable
Répète la saisie.
[C]
Annule le réglage.
[CANCEL]
Enregistre les précédents résultats
de test jusqu'à ce que les prochains
[OFF]
résultats de test soient générés.
Réinitialise les résultats de test lorsque
[ON]
le signal passe à EOM (HIGH).
pour fermer l'écran de
[EXIT]
Résultat de test
Délai
pour le mode
pour le mode