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Spécifications du circuit de test E1
Tableau 39 Spécifications du récepteur
Paramètre
Débit
Mesure de niveau
Choix d'horloge
Horloge de
référence externe
Tableau 40
décrit les spécifications du circuit de test E1
Tableau 40 Spécifications du circuit de test E1
Paramètre
Général
Modes de test
Mesure de performance
Séquence de test
Générateur d'anomalie
(erreur)
Génération de défaut
(alarme)
Comptage d'anomalies
(erreurs)
Testeur SmartClass E1 – Guide d'utilisation
Spécification
Plage : 2.048 MHz ± 512 Hz
Précision : ±5 ppm
Résolution: 1 Hz
Plage : +3 to -37 dBm
Précision :
+3 à -15 dBm, ± 1 dB
-15 à -30, ± 2 dB
-30 à -37, ± 3 dB
Résolution: 0.01 dBm
Rx Opposé, Horloge de référence externe 2M
– 0.5 à 3 V carré ou sinusoïdal
– 2.048 MHz
– Non équilibré / 75 ohms (à l'entrée du câble d'adapta-
teur)
Spécification
Génération de signal de test tramé et non tramé
n x 64 kbit/s BERT
Analyse G.821, G.826, M.2100
Temps de propagation.
Niveau du signal et fréquence
Mesure audio
Analyse et génération Si, Sa, A-bit, et E-Bit (REBE)
Terminaison, Analyse, Haute impédance, Boucle
de ligne
G.821, G.826, M.2100
2^6-1 (ITU), 2^9-1 (ITU), 2^11-1 (ITU), 2^15-1 (ITU
& ITU INV), 2^20-1 (ITU & ITU INV), 2^23-1 (ITU &
ITU INV), QRSS, QBF
Octet programmable 3 à 32 bits
Modèle d'octets de l'utilisateur 1 à 64 octets
Bit (TSE): Individuel, taux, multiple
Code, CRC
E-Bit (REBE)
FAS
MFAS
LOS, LOF, AIS, TS-16, AIS, RDI/FAS distant, MF
AIS, MF RDI/MFAS distant
Bit (TSE), Code, FAS, MFAS, CRC, E-Bit
Annexe B Spécifications
Spécifications du circuit de test E1
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