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Testeur de composants
Généralités
Le HM303-6 possède un testeur de composants intégré qui
permet une visualisation immédiate, indiquant si les composants
sont défectueux ou non. Le testeur de composants peut tester
rapidement les semi conducteurs (par ex. les diodes et les
transistors), les résistances, les capacités, les selfs. Il permet
également le test de certains circuits intégrés. Tous les
composants à tester peuvent être sur un circuit ou isolés.
Le principe du testeur est simple. Un générateur intégré
délivre une tension sinusoïdale appliquée au composant à
travers une résistance fixe. La tension sinusoïdale aux bornes
du composant est utilisée pour la déviation horizontale, et la
tension au bornes de la résistance (en phase avec le courant
dans le composant) est utilisée pour la déviation verticale de
l'oscilloscope. La courbe obtenue montre une caractéristique
tension/courant du composant à tester.
Le circuit à tester est alimenté par un signal sinsoïdal de
fréquence 50Hz (±10%) d'une tension de 8,5V maximum (en
circuit ouvert) ce qui ne donne qu'une indication de
fonctionnement. L'impédance du composant à tester doit
être comprise entre 20Ω et 4,7kΩ. Hors de ces limites la figure
visualisée est celle d'un court-circuit ou d'un circuit ouvert.
Pour interpréter les figures de test, ces limites doivent toujours
être prises en compte. Cependant, la plupart des composants
peuvent normalement être testés sans aucune restriction.
Utilisation du testeur de composants
Le testeur de composants est mis en service par pression sur
la touche TESTEUR COMP. située sous l'écran. Le pré-
amplificateur vertical et la base de temps sont mis hors
service. Une courte trace horizontale est observée. Il n'est pas
nécessaire de débrancher les entrées de l'oscilloscope, les
signaux d'entrées seront sans effet.
En mode testeur de composants, seules les commandes
LUMINOSITE., FOCALISATION, et X-POS sont actives.
Toutes les autres commandes et réglages sont inactifs.
Le branchement du composant est réalisé par deux prises
banane de 4mm reliées à des pointes de touche ou à des
grippe-fils. L'un des fils est relié à la prise TESTEUR COMP.,
l'autre est relié à la terre. Le composant peut être relié aux
cordons de test de différentes façons.
L'oscilloscope revient en position normale par un pression sur
la touche TESTEUR COMP..
Procédure de test
Attention! Ne jamais tester un composant sous tension.
Débrancher les masses, les alimentations et les signaux
connectés au composant à tester. Mettre en service le
testeur de composants. Brancher le composant et
observer l'oscilloscope.
Seules les capacités déchargées peuvent être testées.
Affichage de la figure de test
La page 20 montre différentes figures avec des composants
testés.
Sous réserve de modifications
-Un circuit ouvert est représenté par une ligne horizontale.
-Un court-circuit est représenté par une ligne verticale.
Test de résistances
Si le composant est une résistance pure, la tension et le
courant sont en phase. La figure de test est une ligne droite
oblique. La valeur de la résistance détermine l'angle
d'inclinaison. Les valeurs de résistances élevées donnent une
trace proche de l'horizontale et des valeurs faibles donnent
une trace proche de la verticale. Les résistances comprises
entre 20Ω et 4,7kΩ peuvent être évaluées. L'évaluation d'une
résistance vient de l'expérience ou d'une comparaison directe
avec un composant connu.
Test de capacités et d'inductances
Les capacités et les inductances provoquent une différence
de phase entre le courant et la tension engendrant ainsi une
ellipse. L'angle et l'ouverture de l'ellipse dépend de
l'impédance du composant à 50Hz.
Une ellipse horizontale indique une haute impédance, une
faible capacité ou une inductance relativement élevée.
Une ellipse verticale indique une faible impédance, une
capacité élevée ou une inductance relativement faible.
Une ellipse inclinée provient d'une résistance élevée ajou-
tée à une réactance.
Les valeurs des capacités normales ou électrochimiques de
0,1µF à 1000µF peuvent être obtenues approximativement.
Des mesures précises peuvent être réalisées par comparaison
avec une capacité connue. Les composants inductifs tels que
bobines, transformateurs, peuvent également être testés. La
détermination de la valeur d'une inductance est plus difficile
à cause de la résistance série. Cependant la valeur de
l'impédance d'une self (à 50Hz) peut facilement être obtenue
et comparée dans la gamme de 20Ω à 4,7kΩ.
Test des semiconducteurs
La plupart des semiconducteurs tels que diodes, diodes
Zener, transistors et effets de champs peuvent être testés. La
figure obtenue dépend du type du composant (voir ci dessous).
La principale caractéristique des semiconducteurs est la non
linéarité. Elle donne à l'écran deux segments qui forment un
angle. Il faut noter que caractéristiques directes et inverses
sont visualisées simultanément. Ce test concerne seulement
deux broches, ainsi le test de gain d'un transistor n'est pas
possible. Comme la tension de test appliquée est basse (9V
max.), toutes les jonctions de la plupart des semiconducteurs
peuvent être testées sans dommage. C'est pourquoi le test de
la tension de blocage ou de la tension inverse des
semiconducteurs haute tension n'est pas possible. Dans de
nombreux cas, seul un test de circuit ouvert ou fermé est
suffisant.
Test de diodes
Le tracé de caractéristiques de diodes présente une angulation.
Le tracé pour les diodes haute tension est différent parce que
ces diodes sont composées de plusieurs diodes mises en
série. Il est possible que seule une partie de la caractéristique
soit visible. Les diodes Zener présentent deux coudes, un
coude proche de 0V, et un coude montrant la tension de Zener.
Testeur de composants
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