Préparation D'un Échantillon; Mesure En Réflexion; Accessoire Nécessaire; Mise En Place Du Masque Cible Sur L'instrument - Konica Minolta CM-5 Manuel D'utilisation

Préparation d'un échantillon
Mesure en réflexion
Pour utiliser l'instrument afin de mesurer la réflectance d'échantillons autres qu'une poudre ou une pâte, mettez
le masque cible en place sur le port de mesure d'échantillon et déposez un échantillon dessus. Le masque cible
peut être sélectionné parmi trois types en fonction de la zone d'éclairage (taille du port de mesure d'échantillon) :
ø30 mm, ø8 mm et ø3 mm, en fonction de l'échantillon et de l'application.
Pendant l'exécution des mesures de réflectance, s'assurer qu'il n'y a aucun objet dans la chambre de l'échantillon en
Remarques
transmission.
Accessoire nécessaire
Masque cible : ø30 mm
CM-A197
Pour LAV
Ne touchez pas la surface interne (bord) du masque cible avec
Remarques
les mains.
S'il est sale, essuyez-le à l'aide d'un chiffon doux, propre et sec.

Mise en place du masque cible sur l'instrument

1. Alignez le masque cible avec la rainure de
positionnement de l'instrument et poussez le masque
pour le mettre en place.
F42
Masque cible : ø8 mm
CM-A196 (en option)
Pour MAV
Masque cible : ø3 mm
CM-A195 (en option)
Pour SAV
Bord
Exemple 1
Exemple 2