Agilent Technologies Trueform Série Guide D'utilisation Et De Maintenance page 596

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Procédures d'autotest
Erreur
616
Self-test failed; modulation ADC reference too low (too high)
Mesure interne par le convertisseur A/N de sa tension de référence (VRef) hors
limites.
620
Self-test failed; Chan n, waveform memory test failed on idle
Échec de démarrage du test de la mémoire des signaux, probablement en raison
d'une erreur du réseau FPGA (U1005)
621
Self-test failed; Chan n, waveform memory test failed
Échec du test de la mémoire RAM des signaux de la voie indiquée (U1101 ou
U1102) ; le test consiste à écrire et à lire l'ensemble de la mémoire des signaux
avec un modèle prédéterminé.
625
Self-test failed; Chan n, waveform DAC gain[idx] too low (too high)
Sortie incorrecte du convertisseur de signal N/A (U1801 ou U1501). Le gain
[idx] de 1 fait référence au test de la tension POS ; un gain [idx] de 2 fait réfé-
rence au test de la tension NEG.
630
Self-test failed; Chan n, sub attenuator failure 0dB
Sortie incorrecte à 0 dB du convertisseur de signal N/A d'écrêtage dans le conver-
tisseur de signal N/A (U1801 ou U1501). Dans ce cas, le test 631 n'est pas exé-
cuté.
631
Self-test failed; Chan n, sub attenuator <-7,00 to 0,00>dB too low
(too high)
Sortie hors limites du convertisseur de signal N/A d'écrêtage dans le conver-
tisseur de signal N/A (U1801 ou U1501).
635
Self-test failed; Chan n, null DAC gain[idx] too low (too high)
Sortie auxiliaire hors limites du convertisseur N/A (U1801 ou U1501) ou des cir-
cuits analogiques associés. Le gain [idx] de 1 fait référence au test de la tension
POS ; un gain [idx] de 2 fait référence au test de la tension NEG.
640
Self-test failed; Chan n, offset DAC gain[idx] too low (too high)
Sortie hors limites de la tension résiduelle du convertisseur N/A (U1702 ou
U2002) ou des circuits associés. Pour la tension résiduelle du convertisseur N/A
déphasé, les polarités [idx] sont inversées : un gain [idx] de 1 fait référence au
test de la tension NEG ; un gain [idx] de 2 fait référence au test de la tension
POS.
650
Self-test failed; Chan n, 0dB path failure expected 0dB, measured
value dB
Sortie hors limites de la propagation directe du signal (sans atténuateur) du
convertisseur N/A à l'entrée du convertisseur A/N. Dans ce cas, le test détaillé
de l'atténuateur 655 n'est pas exécuté.
594
Message et signification (série 33500)
Guide d'utilisation et de maintenance Agilent Série Trueform
Cause probable
(série 33500)
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