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Global Energy Innovations – Analyseurs EC1000
Manuel d'Utilisation
Notez que toutes les configurations décrites ci-dessus peuvent être également paramétrées avec IBMS™ et être ensuite transférées sur vos Analyseurs pour vos
tests sur le terrain.
TEST
Après vous être familiarisé(e) et avoir configuré des tests rapides ou de chaîne, vous pouvez maintenant utiliser ces configurations pour vos tests. Les sections
suivantes vous présenteront comment utiliser ces configurations dans le cadre de test.
MÉTHODES DE TEST AVEC L'ANLAYSEUR
Il y a deux types de test pouvant être effectué: Les TESTS RAPIDES et les TESTS DE CHAÎNE; ces tests pouvant être configurés comme décrit précédemment.
Un TEST RAPIDE est plus adapté pour rapidement tester quelques batteries, interconnecteurs, etc. mais l'Analyseur ne gardera aucune trace des mesures une
fois que le TEST RAPIDE est quitté. Les TESTS DE CHAÎNE requièrent une configuration plus solide mais sauvegardent les mesures vous permettant de suivre
l'évolution de vos batteries facilement avec IBMS™.
TESTS RAPIDES – Cette section couvre la méthode de test basée sur un TEST RAPIDE.
Figure 2.17. Écran de Test Rapide.
L'écran présenté sur la Figure 2.17 présente un TEST RAPIDE configuré avec toutes les options possibles. Les options et les alarmes ont été paramétrées
depuis le menu de CONFIGURATIONS DE TEST RAPIDE (voir section précédente). L'Analyseur est fourni avec trois configurations non-modifiables en plus de
celles que vous avez configurez:
(1) IMPEDANCE METER – Ce modèle préfiguré sur l'Analyseur mesure seulement l'Impédance sans aucune condition d'alarme.
(2) VOLTAGE & IMPEDANCE METER – Ce modèle préfiguré sur l'Analyseur mesure l'Impédance et le Voltage sans aucune condition d'alarme.
(3) VOLTAGE METER – Ce modèle préfiguré sur l'Analyseur mesure seulement le Voltage sans conditions d'alarme.
(4) [MODÈLE PERSONALISÉ] – En dessous des trois configurations ci-dessus, une liste des modèles de configurations créés par l'utilisateur sur
l'Analyseur ou transférée depuis IBMS™.
™
™
& EC2000
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Chapitre 2 – Configuration de l'Analyseur Pour le Test
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