Table des Matières
Publicité
MW 9665
1.1.4 Remarques concernant les fonctions de mesure
Résistance d'isolement
La gamme de mesure est réduite si vous utilisez la sonde déportée
Si une tension supérieure à 30V (AC ou DC) est détectée entre les bornes de test, la
mesure ne sera pas effectuée.
Test de diagnostique
Si une valeur de résistance d'isolement (R
DAR n'est pas calculé. Le champ de résultat est vide DAR:_____
Si une valeur de résistance d'isolement (R
facteur PI n'est pas calculé. Le champ de résultat est vide : PI :_____.
R low, Continuité
Si une tension supérieure à 10V (AC ou DC) est détectée entre les bornes de test, la
mesure ne sera pas effectuée.
Les boucles parallèles peuvent avoir une influence sur les résultats du test.
Terre, terre 2 pinces, Ro
Si la tension entre les bornes de test est supérieure à 10V (Terre, Terre 2 pinces) ou 30V
(Ro), la mesure ne sera pas effectuée.
La mesure de résistance de mise à la terre sans contact (en utilisant 2 pinces de courant)
permet un test simple de perches individuelles de mise à la terre dans un grand système
de mise à la terre. Elle est souvent utilisée dans les zones urbaines, car la plupart du
temps, il est impossible d'y placer les sondes de test.
Pour les mesures de résistance à terre à deux pinces, il faut utiliser les pinces A 1018 et
A 1019. Les pinces A 1391 ne sont pas supportées. La distance entre les pinces doit être
d'au moins 30cm.
Pour les mesures de résistance à terre spécifiques, utilisez l'Adaptateur A1199.
DDR t, DDR I, DDR Uc, DDR Auto
Les paramètres configurés pour une fonction le sont aussi pour les autres fonctions DDR.
Les DDR sélectifs (à temps différé) ont la spécificité de réponse tardive. Étant donné que
le pré-test de tension et que les autres tests de DDR influencent le DDR à temps différé,
cela prend un certain temps pour retrouver un état normal. Par conséquent, un temps
différé de 30sec est inséré avant un test de déclenchement par défaut.
Les DDR portables (DDRP, DDRP-K et DDRP-S) sont testés comme des DDR normaux
(non différés). Les temps de déclenchement, les déclenchements en courant et les limites
de tension de contact sont égaux aux limites des DDR normaux (non différés).
La fonction Zs ddr est plus longue à s'effectuer mais offre une plus grande précision de
mesures (par rapport au sous-résultat R
Le test automatique est fait sans les tests x5 en cas de test de DDR de types A, F, B et
B+ avec un courant résiduel nominal de I
DDR de type AC avec un courant résiduel nominal de I
résultats du test automatique sont bons si tous les autres résultats de test le sont, et si les
indications pour x5 sont omises.
Les tests automatiques sont faits sans les tests x1 en cas de test de DDR de type B et B+
avec un courant résiduel nominal de I
automatique sont bons si tous les autres résultats le sont, et si les indications pour x1 sont
omises.
Les tests de sensibilité Idn(+) et Idn(-) sont omis pour le DDR de type sélectif.
Les mesures avec temps de déclenchement pour les DDR de type B et B+ en fonction
automatique sont faites avec des tests de courant sinusoïdaux, alors que les mesures
avec temps de déclenchement sont faites avec des tests de courant DC.
(15 s) ou R
(60 s)) est trop élevée, le facteur
ISO
ISO
(60 s) ou R
ISO
ISO
dans la fonction de tension de contact).
L
= 300 mA, 500 mA, et 1000 mA, ou de test de
dN
= 1000 mA. Dans ce cas, les
dN
= 1000 mA. Dans ce cas, les résultats du test
dN
8
Description générale
(10 min)) est trop élevée, le
Publicité
Table des Matières
