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METREL MI 3340 AlphaEE XA Manuel D'utilisation
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Sommaire des Matières pour METREL MI 3340 AlphaEE XA

  • Page 1 MI 3340 AlphaEE XA Manuel d’utilisation Ver. 1.2.3, code no. 20 753 403...
  • Page 2 Il incombe à l’utilisateur d’assurer l’intégrité et la sécurité du support des données et de procéder régulièrement à des sauvegardes et à la validation de l’intégrité des sauvegardes des données. METREL N’A AUCUNE OBLIGATION OU RESPONSABILITÉ EN CAS DE PERTE, D’ALTÉRATION, DE DESTRUCTION, DE DOMMAGE, DE CORRUPTION OU DE RÉCUPÉRATION DES DONNÉES DE L’UTILISATEUR, QUEL QUE SOIT L’ENDROIT OÙ...
  • Page 3 MI 3340 - AlphaEE XA Table des Matières ABLE DES ATIERES Description générale ....................8 Avertissements et remarques ..................8 1.1.1 Avertissements concernant la sécurité .............. 8 1.1.2 Avertissements concernant la sécurité des batteries ........9 1.1.3 Avertissements de sécurité concernant les fonctions de mesure ..... 9 1.1.4 Les symboles sur l’appareil ................
  • Page 4 MI 3340 - AlphaEE XA Table des Matières 4.6.6 Connectivité ...................... 35 4.6.7 Appareils ......................35 Profils de l’appareil ....................36 Gestionnaire de l’espace de travail ................37 4.8.1 Espaces de travail et Exportation ..............37 Groupes d’Auto Séquence® ..................39 Organisateur de Mémoire ..................
  • Page 5 MI 3340 - AlphaEE XA Table des Matières 6.4.19 Polarité ......................79 6.4.20 Pince de courant ....................80 6.4.21 Tension SELV/PELV ................... 81 6.4.22 Test de diagnostic IRVE (A 1632) ..............83 6.4.23 DDR-VE ......................84 6.4.24 Conducteur PE (DDR-VE) .................. 86 6.4.24.1 Compensation de la résistance de l’adaptateur de prise IEC ......
  • Page 6 Imprimer les étiquettes et lire les étiquettes NFC ........117 Format de l’étiquette PAT ..................117 Format de l’étiquette générique ................119 Annexe D Programmation d’Auto Séquences® sur Metrel ES Manager ..... 120 ® Espace de travail de l’Éditeur d’Auto Séquence ........... 120 ®...
  • Page 7 MI 3340 - AlphaEE XA Table des Matières SDK .......................... 135 Annexe F Tests dans les systèmes d’alimentation IT et CT ........136 Annexe G Permissions de l’utilisateur ..............137 Standard ......................... 137 Instruit ........................137...
  • Page 8 ! • Les Auto Séquences® de Metrel sont conçues pour guider les tests afin de réduire de manière significative la durée des tests, d’améliorer la portée du travail et d’augmenter la traçabilité des tests effectués. Metrel n’assume aucune responsabilité...
  • Page 9 MI 3340 - AlphaEE XA Description générale 1.1.2 Avertissements concernant la sécurité des batteries • Utilisez uniquement des batteries fournies par votre distributeur. • N’essayez pas d’ouvrir, d’écraser ou de perforer les batteries. • N’utilisez pas de batteries endommagées. • Si un liquide s’échappe de la batterie, ne le touchez pas.
  • Page 10 Les captures d’écran LCD de ce document sont uniquement informatives Les écrans de l’appareil peuvent être légèrement différents. Metrel se réserve le droit d’apporter des modifications techniques sans préavis dans le cadre du développement ultérieur du produit. Batterie et charge des batteries Li-ion 1.2.1 Batterie et caractéristiques de charge...
  • Page 11 MI 3340 - AlphaEE XA Description générale 1.2.2 Directives concernant les batteries Li - ion Les batteries rechargeables Li - ion nécessitent un entretien régulier et une attention particulière lors de leur utilisation et de leur manipulation. Lisez et suivez les directives de ce manuel d’instructions pour utiliser en toute sécurité...
  • Page 12 MI 3340 - AlphaEE XA Description générale Sécurité (LVD) EN 61010-1 Règles de sécurité pour appareils électriques de mesure, de régulation et de laboratoire - Partie 1 : Exigences générales EN 61010-2-030 Règles de sécurité pour appareils électriques de mesure, de régulation et d’utilisation en laboratoire - Partie 2-030 : Règles particulières pour les circuits de test et de mesure EN 61010-031...
  • Page 13 • Certificat d’étalonnage • Manuel d’utilisation abrégé • SW 1201 Metrel ES Manager* *Vous pouvez télécharger le logiciel 1201 Metrel ES Manager et tous le documents à partir de notre site web. Accessoires optionnels Pour voir la liste des accessoires optionnels, convenus pour cet appareil de test, contactez...
  • Page 14 MI 3340 - AlphaEE XA Description de l’appareil 3 Description de l’appareil Panneau avant Entrée d’alimentation secteur Prise de test du réseau Connecteur de test IEC Borne de raccordement PE, COM Borne de raccordement LN Borne V, P/S (sonde) Port de communication USB Affichage TFT en couleurs avec un écran tactile Bande LED Réussite / Échec Ensemble de boutons (pour les détails, consultez le chapitre Signification...
  • Page 15 MI 3340 - AlphaEE XA Description de l’appareil Arrière de l’appareil Étiquette avec le numéro de série Capot du compartiment batterie / fusible avec l’étiquette d’informations Vis du capot du compartiment batterie / fusible...
  • Page 16 MI 3340 - AlphaEE XA Description de l’appareil 3.2.1 Compartiment batterie / fusible Batteries Li - ion Connecteur de batterie Emplacement carte MicroSD Fusibles F1, F2, F3 (pour le détails, voir le chapitre Fusibles)
  • Page 17 MI 3340 - AlphaEE XA Fonctionnement de l’appareil 4 Fonctionnement de l’appareil L’appareil peut être manipulé à partir d’un clavier ou d’un écran tactile. Signification générale des boutons Les flèches sont utilisées pour : • Sélectionner l’option appropriée. • Gauche, droite, haut, bas. •...
  • Page 18 MI 3340 - AlphaEE XA Fonctionnement de l’appareil Signification générale des gestes tactiles Le tapotement (contact bref sur la surface avec le bout du doigt) est utilisé pour : • Sélectionner l’option appropriée. • Confirmer l’option sélectionnée. • Démarrer et arrêter les mesures. Glisser (appuyer, déplacer, relever) vers le haut/bas est utilisé...
  • Page 19 MI 3340 - AlphaEE XA Fonctionnement de l’appareil Contrôles de sécurité, symboles, messages Lors de la mise en service et pendant le fonctionnement, l’appareil effectue différents contrôles de sécurité afin de garantir la sécurité et d’éviter tout dommage. Si un contrôle de sécurité...
  • Page 20 MI 3340 - AlphaEE XA Fonctionnement de l’appareil Résistance L-N < 10 Ω très faible résistance l’entrée d’alimentation de l’appareil testé a été mesurée lors du pré-test. Cela peut résulter en un courant élevée après avoir appliqué du courant à l’équipement sous test.
  • Page 21 MI 3340 - AlphaEE XA Fonctionnement de l’appareil Une tension externe trop élevée a été détectée entre les bornes LN et PE lors du pré-test. La mesure a été annulée. Un courant de fuite élevé possible a été détecté lors du pré-test. Il est probable qu’un courant de fuite dangereux (supérieur à...
  • Page 22 MI 3340 - AlphaEE XA Fonctionnement de l’appareil La mesure est interdite pour des raisons de sécurité. Référez-vous à l’Annexe F Tests dans les systèmes d’alimentation IT et CT. Le DDR s’est déclenché pendant la mesure (dans les fonctions DDR/DDRP). L’équipement sous test doit être allumé...
  • Page 23 MI 3340 - AlphaEE XA Fonctionnement de l’appareil Test réussi. Le résultat se situe à l’intérieur des limites prédéfinies. Test échoué. Le résultat est en dehors des limites prédéfinies. Les conditions des bornes d’entrée autorisent le début de la mesure; prenez en considération les autres avertissements et messages affichés.
  • Page 24 MI 3340 - AlphaEE XA Fonctionnement de l’appareil Menu principal de l’appareil Le menu principal de l’appareil permet de sélectionner quatre menus d’opération principaux. Tests simples Menu de sélection des tests simples. Auto Séquences® Menu de sélection d’Auto Séquence®. Menu pour travailler avec des objets de test et Organisateur de Mémoire des mesures structurés.
  • Page 25 Gestion des listes d’Auto Séquences®. Comptes d’utilisateurs Gestion des comptes d’utilisateurs. Menu avec lien QR code pour la connexion à Connectivité l’application Metrel Cloud. Profils de l’appareil Profils (Ce réglage n’est visible que si plusieurs profils sont disponibles.) Réglage de différents paramètres de système et Réglages...
  • Page 26 MI 3340 - AlphaEE XA Fonctionnement de l’appareil 4.6.1 Réglages Écran tactile Activer / désactiver l’écran tactile. Son des boutons Activer / désactiver le son des touches. & touches ID de l’équipement proposé dans l’Organisateur de Mémoire : ID de •...
  • Page 27 MI 3340 - AlphaEE XA Fonctionnement de l’appareil • Idiff, Ipe, Itouch (Polarité de secteur = all): Dernier : Le plus mauvais des derniers résultats de chaque étape s’affiche. • Continuité (Mode Start = auto) : Dernier : Le pire de tous les derniers résultats de chaque étape s’affiche.
  • Page 28 MI 3340 - AlphaEE XA Fonctionnement de l’appareil 4.6.2 Initialisation Bluetooth Ce menu permet de réinitialiser le module Bluetooth. 4.6.3 Réglages initiaux Dans ce menu, le module Bluetooth interne sera initialisé et les réglages de l’appareil, les paramètres de mesure et les limites seront réglés sur les valeurs initiales (d’usine). AVERTISSEMENT Les réglages personnalisés suivants seront perdus lorsque les appareils seront réglés sur les paramètres initiaux :...
  • Page 29 MI 3340 - AlphaEE XA Fonctionnement de l’appareil 4.6.5 Comptes d’utilisateurs L’obligation de s’identifier empêche des personnes non autorisées de travailler avec l’appareil. Dans ce menu, vous pouvez configurer les comptes d’utilisateur : • Définir s’il est nécessaire ou non de se connecter pour travailler avec l’appareil. •...
  • Page 30 MI 3340 - AlphaEE XA Fonctionnement de l’appareil 4.6.5.1 Connexion Si la connexion est demandée, l’utilisateur doit entrer son mot de passe afin de travailler avec l’appareil. Figure 4.1: Menu Connexion Options Connexion de l’utilisateur Sélectionnez d’abord l’utilisateur. Le dernier utilisateur connecté...
  • Page 31 MI 3340 - AlphaEE XA Fonctionnement de l’appareil 4.6.5.2 Changement de mot de passe, déconnexion Figure 4.2: Menu Profil d’utilisateur Options Déconnectez l’utilisateur. Entamez la procédure pour changer le mot de passe de l’utilisateur. Vous devez d’abord entrer votre mot de passe actuel puis entrez le nouveau mot de passe.
  • Page 32 MI 3340 - AlphaEE XA Fonctionnement de l’appareil 4.6.5.3 Gestion des comptes Figure 4.3: Menu gestionnaire de compte Options Zone de saisie permettant de définir si l’identification est requise pour travailler avec l’appareil. Zone de saisie permettant de définir si l’identification est requise une seule fois ou à...
  • Page 33 MI 3340 - AlphaEE XA Fonctionnement de l’appareil Figure 4.4: Menu de modification de comptes Options Ouvrez une fenêtre pour ajouter un nouveau compte d’utilisateur. Dans la fenêtre ‘Ajouter Nouveau’, le nom et le mot de passe initial du nouvel utilisateur doivent être définis. ‘Ajouter’...
  • Page 34 MI 3340 - AlphaEE XA Fonctionnement de l’appareil 4.6.5.5 Réglage du mot de passe de la boîte noire Le mot de passe de la boîte noire peut être défini par l’administrateur depuis le menu du Gestionnaire de compte. Le mot de passe de la boîte noire défini est valable pour tous les utilisateurs.
  • Page 35 MI 3340 - AlphaEE XA Fonctionnement de l’appareil 4.6.6 Connectivité Dans ce menu, un lien QR code pour la connexion à l’application Metrel Cloud s’affiche. Consultez l’aide Metrel Cloud pour plus d’informations. Remarque L’application Metrel Cloud est disponibles sur Android et iOS.
  • Page 36 MI 3340 - AlphaEE XA Fonctionnement de l’appareil Sélectionnez le type d’étiquette à imprimer : [simple, classique, Type d’étiquette QR]. Voir l’Annexe C Imprimer les étiquettes et lire les étiquettes NFC. Étiquettes Sélectionnez le nombre d’étiquettes : [1 étiquette, 2 étiquettes] Appareils de lecture Définissez l’appareil de lecture approprié...
  • Page 37 Les espaces de travail sont stockés sur la carte microSD dans le répertoire ESPACES DE TRAVAIL, tandis que les exportations sont stockées dans le répertoire EXPORTS. Les fichiers d’exportation peuvent être lus par les applications Metrel qui fonctionnent sur d’autres appareils. Les exportations conviennent pour faire des sauvegardes des données de travaux importants ou peuvent être utilisées pour le stockage des données de travaux si la carte...
  • Page 38 MI 3340 - AlphaEE XA Fonctionnement de l’appareil Sélectionner Ouvrez l’espace de travail sélectionné dans l’Organisateur de mémoire. Supprimer Supprimez l’espace de travail sélectionné. Exporter Exportez l’espace de travail sélectionné en tant qu’exportation. Importer Importez dans un espace de travail l’exportation sélectionnée. Supprimer Supprimez l’exportation sélectionnée.
  • Page 39 MI 3340 - AlphaEE XA Fonctionnement de l’appareil Groupes d’Auto Séquence® Les Auto Séquences de l’appareil peuvent être organisées à l’aide de listes. Dans une liste, un groupe d’Auto Séquences similaires est stocké. Le menu des groupes d’Auto Séquences® permet de gérer différentes listes. Les dossiers contenant des listes d’Auto Séquences sont stockés dans Root\__MOS__\AT sur la carte microSD.
  • Page 40 MI 3340 - AlphaEE XA Organisateur de Mémoire 5 Organisateur de Mémoire L’organisateur de mémoire est un environnement qui permet de stocker et travailler avec des données de test. Les données sont organisées dans une structure arborescente à plusieurs niveaux avec des Objets de structure et des Mesures. Pour une liste d’objets de structure disponibles, voir l’Annexe A - Objets de structure dans AlphaEE XA.
  • Page 41 MI 3340 - AlphaEE XA Organisateur de Mémoire 5.1.2 Opérations sur les mesures Début du test Commencez une nouvelle mesure. Dupliquer Copiez la mesure sélectionnée en tant que mesure vide sous le même Objet de structure. Copier, Coller Copiez une mesure sélectionnée en tant que mesure vide à n’importe quel endroit de l’arborescence.
  • Page 42 MI 3340 - AlphaEE XA Organisateur de Mémoire 5.1.3 États des mesures Les états des mesures indiquent le statut d’une mesure ou d’un groupe de mesures dans l’Organisateur de Mémoire. États des Tests simples Test simple réussi avec les résultats du test. Échec du test simple avec les résultats du test.
  • Page 43 MI 3340 - AlphaEE XA Organisateur de Mémoire 5.1.4 Opérations sur les objets de structure Démarrez une nouvelle mesure (passez aux menus pour la sélection de la Début du test mesure). Paramètres Affichez / modifiez les paramètres. Dupliquer Copiez l’élément sélectionné au même niveau dans l’arborescence. Copiez l’élément sélectionné...
  • Page 44 MI 3340 - AlphaEE XA Organisateur de Mémoire 5.1.5 Recherche dans l’Organisateur de Mémoire Dans l’Organisateur de mémoire, il est possible de rechercher différents objets de structure et leurs paramètres. Ligne d’en-tête (Espace de travail), Entrez dans le menu de recherche. Recherche Rechercher Recherchez selon les paramètres, l’état, etc.
  • Page 45 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples 6 Tests simples Différents modes pour sélectionner des Tests simples sont disponibles. Modes de sélection 6.1.1 Domaines d’utilisation Avec l’aide des domaines d’utilisation, il est possible de limiter le nombre de tests simples proposés en fonction du champ d’utilisation.
  • Page 46 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples Écrans du test simple Les principaux résultats de mesure, les sous-résultats, les limites et les paramètres de la mesure sont affichés dans les écran de test simple. De plus, des états en ligne, des avertissements et d’autres informations sont affichés.
  • Page 47 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples 6.2.2 Écrans du test simple pendant le test Terminez le test simple. Passez à l’étape suivante d’un test simple. Reconnectez et passez à l’étape suivante d’un test simple. Écran de test précédent, suivant Procédure de test (pendant le test) Regardez les résultats et états affichés.
  • Page 48 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples 6.2.3 Écran de résultats du test simple Début du test Démarrez un nouveau test simple. Sauvegarder Sauvegardez le résultat. Une nouvelle mesure a été lancée à partir Cette mesure sera enregistrée sous l’Objet d’un Objet structure...
  • Page 49 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples Écrans du test simple (inspection) Les inspections visuelles et fonctionnelles sont un genre spécial de tests simples. Les éléments à vérifier visuellement et fonctionnellement sont affichés. Des états appropriés peuvent être appliqués. Inspection sélectionnée État général Options Champs d’état...
  • Page 50 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples 6.3.2 Écran du test simple (inspection) pendant le test Ligne d’en-tête (nom de l’inspection), Appliquez ou effacez l’état général pour appliquez Réussite ou Échec ou Vérifié compléter l’inspection. ou Vide. Sélectionnez un groupe d’objets. Appliquez Réussite ou Échec ou Vérifié...
  • Page 51 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples Règles d’application automatique des statuts • Les éléments parents obtiendront Le statut d’échec a la priorité la plus élevée. Un automatiquement un statut sur la statut d’échec pour un élément entraînera un base des statuts des éléments statut d’échec pour tous les éléments parents et enfants.
  • Page 52 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples 6.3.3 Écran de résultat du test simple (inspection) Début du test Démarrez une nouvelle inspection. Sauvegarder les résultats Sauvegardez le résultat. Commenter Ajoutez un commentaire à l’inspection. Aide Affichez les écrans d’aide. Une nouvelle inspection a été lancée à Cette inspection sera enregistrée sous l’objet partir d’un objet de structure dans de structure sélectionné.
  • Page 53 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples 6.3.4 Écrans d’aide Les écrans d’aide contiennent des schémas pour une connexion correcte de l’appareil. Aide Ouvrez l’écran d’aide. Allez à d’autres écrans d’aide. Mesures du test simple 6.4.1 Inspection visuelle Résultats / sous-résultats du test Réussite, Échec, Vérifié...
  • Page 54 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples 6.4.2 Continuité Résultats / sous-résultats du test Résistance Paramètres du test Sortie Sortie [P/S – PE, MS_PE – IEC_PE] Courant du test I sortie [0,2 A] Mode Start Mode Start [Manuel, Auto] Durée Durée [Off, 2 s …...
  • Page 55 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples Circuits de test Procédure de mesure (mode Start = Auto) Dans ce mode, vous pouvez prendre plusieurs mesures à différents points de test au sein d’un test simple. 1. Démarrez le test : L’appareil vérifie la présence d’une connexion à...
  • Page 56 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples 6.4.2.1 Compensation de la résistance des fils de test / des câbles de test La résistance des fils de test et des câbles peut être compensée. La compensation est possible dans les fonctions suivantes : •...
  • Page 57 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples Remarque La valeur de la compensation est correcte uniquement pour la sortie (borne P/S - borne PE sur la prise de test ou borne P/S - borne PE) sur laquelle la calibration a été effectuée. Astuce Pour réinitialiser la valeur de la compensation, exécutez la compensation avec les fils ouverts.
  • Page 58 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples Règles de la Limite : A: EN / CSA ≤ 1.5 mm La limite de la résistance est réglée conformément aux normes EN 50678 et EN 50699, pour les zones de section transversale jusqu’à 1.5 mm Longueur du fil (l) Limite R [Ω] L <= 5 m...
  • Page 59 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples C: NEN 3140* La limite de la résistance dérive du tableau sur la base de la longueur du fil et de la section transversale du fil. Le tableau est basé sur la norme NEN 3140. Section transversale du fil [mm Longueur du fil (L) Limite R [Ω]...
  • Page 60 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples Section transversale du fil [mm Longueur du fil (L) Limite R [Ω] L <= 2 m 0.20 0.20 0.20 2 m < L <= 5 m 0.21 0.21 0.20 5 m < L <= 10 m 0.22 0.21 0.21...
  • Page 61 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples Circuits de test Riso Riso-S Riso (EST dans une installation fixe) Remarque Le courant dans la sonde P/S est aussi pris en compte dans le résultat Riso. 6.4.4 Fuite secondaire (Isub, Isub-S) Résultats / sous-résultats du test Courant de fuite secondaire Isub (+résultat) Résultat [TRMS]...
  • Page 62 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples Circuits de test Isub Isub-S Isub (EST dans une installation fixe) Remarque Lorsque la sonde P/S est connectée lors de la mesure de fuite secondaire, le courant dans la sonde est aussi pris en compte. 6.4.5 Test automatique : Cont+Ins+Sub Résultats / sous-résultats du test...
  • Page 63 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples Limites du test Limite (Row) Limite H (R) : [OFF, Personnalisée, 0,01 Ω ... 9 Ω] Limite (Isub) Limite H (Isub) : [Off, Personnalisée, 0.25 mA … 15.0 mA] Limite (Riso) Limite L (Riso) : [OFF, Personnalisée, 0,01 MΩ...10,0 MΩ] Options additionnelles Calibrez - voir le chapitre Compensation de la résistance...
  • Page 64 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples 6.4.6 Fuite différentielle Résultats / sous-résultats du test Diff: Courant de fuite différentiel Idiff (+ secteur, résultat) Secteur : [nor, rev] Résultat [TRMS] Puissance Non montré séparément dans la Vue des résultats = Standard Paramètres du test Durée Durée : [Off, 2 s …...
  • Page 65 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples 6.4.7 Fuite entre deux points Résultats / sous-résultats du test Ileak: Courant de fuite entre deux points Ileak (résultat) Résultat [TRMS, AC, DC] Paramètres du test Durée Durée : [Off, 2 s … 180 s] Limites du test Limite H (Ileak TRMS) : Limite H (Ileak TRMS)
  • Page 66 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples 6.4.8 Fuite Ipe Résultats / sous-résultats du test Ipe (+ secteur, condition, résultat) Courant de fuite PE Secteur [nor, rev] Condition [NC, sfN] Résultat [TRMS, AC, DC] Puissance Non montré séparément dans la vue des résultats = Standard Paramètres du test Durée Durée : [Off, 2 s …...
  • Page 67 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples Circuit de test Remarque L’adaptateur pour conditions de défaut unique (A 1789) doit être utilisé pour simuler les connexions de conditions de défaut unique. 6.4.9 Fuite de contact Résultats / sous-résultats du test Itou (+ secteur, condition, Courant de fuite de contact résultat)
  • Page 68 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples Limites du test Limite H (Itou TRMS, NC) Limite H (Itou TRMS, NC) : [Off, Personnalisée, 0.25 mA … 15.0 mA] Limite H (Itou AC, NC) Limite H (Itou AC) : [Off, Personnalisée, 0.50 mA, 5.00 mA] Limite H (Itou DC, NC) Limite H (Itou DC) : [Off, Personnalisée, 2.0 mA, 25 mA]...
  • Page 69 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples 6.4.10 Entrée Itouch + Ifloating Résultats / sous-résultats du test Itou+Ifi (+ résultat) Somme des courants de Fuite de contact et de l’Entrée Flottante Secteur [nor, rev] Résultat [TRMS] Itou (+ secteur, résultat) Courant de fuite de contact Secteur [nor, rev] Résultat [TRMS]...
  • Page 70 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples Circuit de test Étape 1 Étape 2 Remarque La mesure est constituée de trois étapes. Étape 1 - Itou est mesuré. Étape 2 - Ifi est mesuré. S’il y a plus d’entrées flottantes, les entrées individuelles peuvent être mesurées successivement et les résultats sont additionnés.
  • Page 71 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples Paramètres du test Durée Durée : [Off, 2 s … 180 s] Polarité de secteur [All, Normale, Inversée] Normale: La tension de phase est appliquée à la sortie droite de la prise de test secteur. Inversée : La tension de phase est appliquée à...
  • Page 72 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples 6.4.12 Puissance Résultats / sous-résultats du test Puissance active Puissance apparente Puissance réactive Facteur de puissance THDu Distorsion harmonique totale - tension THDi Distorsion harmonique totale - courant Cos Φ Cosinus Φ Courant de charge Tension Paramètres du test Durée...
  • Page 73 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples 6.4.13 Fuites et Puissance Résultats / sous-résultats du test Puissance active Itou (+ secteur, condition, Courant de fuite de contact résultat) Secteur [nor, rev] Condition [NC, sfN, sfPE] Résultat [TRMS, AC, DC] Idiff TRMS (+ secteur) Diff: Courant de fuite différentiel Secteur [nor, rev] Condition [NC]...
  • Page 74 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples Limites du test Limite H (P) Limite H (P) : [Off, Personnalisée, 10 W … 3.50 kW] Limite L (P) Limite L (P) : [Off, Personnalisée, 10 W … 3.50 kW] Limite H (Idiff TRMS) Limite H (Idiff) : [Off, Personnalisée, 0.25 mA …...
  • Page 75 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples 6.4.14 Test DDRP Résultats / sous-résultats du test t ∆N Temps de déclenchement t I∆N x1, (+) Temps de déclenchement (I , (+) positive)   N t I∆N x1, (-) Temps de déclenchement (I , (-) polarité...
  • Page 76 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples 6.4.15 Test des DDR Résultats / sous-résultats du test t ∆N Temps de déclenchement t I∆N x1, (+) Temps de déclenchement (I , polarité positive (+))   N t I∆N x1, (-) Temps de déclenchement (I , (-) polarité...
  • Page 77 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples 6.4.16 Conducteur PE (DDRP) Résultats / sous-résultats du test Résistance Résultat Indication que la protection de la varistance dans la connexion PE fonctionne correctement. Paramètres du test Type de DDRP Design : [2 piquets, 3 piquets, S( 3 piquets), S+] Durée Durée : [Off, 2 s …...
  • Page 78 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples 6.4.17 Conducteur ouvert (DDRP) Dans ce test, l’appareil déconnecte les conducteurs individuels du côté de l’alimentation et la réponse du DDRP est vérifiée. Résultats / sous-résultats du test L-ouvert Résultat pour le conducteur L ouvert [Réussite, Échec] N-ouvert Résultat pour le conducteur N ouvert [Réussite, Échec] PE-ouvert...
  • Page 79 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples Circuits de test Test = manuel Test = auto Remarques Une tension sûre mais élevée est appliquée au fil de test pendant le test. Ne touchez pas la pointe exposée à l’extrémité du fil de test. Risque de choc électrique non dangereux mais désagréable ! Le test est destiné...
  • Page 80 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples Circuits de test Mode = normal Mode = actif Remarque Le test de polarité active est destiné à tester les fils de test équipés d’interrupteurs DDR(P) ou d’interrupteurs alimentés par le secteur. 6.4.20 Pince de courant Résultats / sous-résultats du test Courant Paramètres du test...
  • Page 81 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples Circuit de test Remarque La gamme de fréquence pour cette mesure est limitée. Cette fonction de mesure ne peut pas être utilisée pour mesurer les courants de fuite des appareils qui génèrent des courants de fuite avec des fréquences supérieures à...
  • Page 82 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples Limites du test Limite H (U NC, TRMS) Limite (U NC, TRMS) : [Off, Personnalisée, 50 V, 60 V] Limite H (U NC, AC) Limite (U NC, AC) : [Off, Personnalisée, 30 V, 50 V] Limite H (U NC, DC) Limite (U NC, DC) : [Off, Personnalisée, 60 V, 120 V] Limite H (U sfN, TRMS)
  • Page 83 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples 6.4.22 Test de diagnostic IRVE (A 1632) Résultats / sous-résultats du test Valeur maximale du signal CP (pilote de contrôle) Valeur minimale du signal CP (pilote de contrôle) Rapport C. Rapport cyclique du signal CP (pilote de contrôle) Freq Fréquence du signal CP (pilote de contrôle) Iirve...
  • Page 84 Consultez le Manuel d’utilisation de l’Analyseur eMobility A 1632 pour plus d’informations. Référez-vous à la note d’application du Manuel d’utilisation du OmegaPAT/GT XA pour plus d’informations. Suivez les instructions dans les Auto Séquences® Metrel pour les câbles de charge. 6.4.23 DDR-VE Résultats / sous-résultats du test t ∆N Temps de déclenchement...
  • Page 85 Consultez le Manuel d’utilisation de l’Adaptateur eMobility A 1832 pour plus d’informations. Référez-vous à la note d’application du Manuel d’utilisation du OmegaPAT/GT XA pour plus d’informations. Suivez les instructions dans les Auto Séquences® Metrel pour les câbles de charge.
  • Page 86 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples 6.4.24 Conducteur PE (DDR-VE) Résultats / sous-résultats du test R ....Résistance Paramètres du test Type de DDR-VE Design [IC CPD] Durée Durée [Off, 2 s … 180 s] Courant du test I test [standard, bas] Standard : I test = 0.2 A Bas : Itest = <...
  • Page 87 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples 6.4.24.1 Compensation de la résistance de l’adaptateur de prise IEC La résistance de l’adaptateur de prise IEC peut être compensée dans la fonction de test conducteur PE (DDR VE) : Connexion pour compenser la résistance de l’adaptateur de prise IEC Procédure de compensation de la résistance de l’adaptateur de prise IEC Sélectionnez le test simple du conducteur PE (DDR-VE) et ses paramètres.
  • Page 88 MI 3340 - AlphaEE XA Tests simples 6.4.25 Test TRMS renforcé Résultats / sous-résultats du test Tension secteur - neutre Unpe Tension neutre - PE Ulpe Tension neutre - PE Défaut de prise Description du défaut Résistance de boucle Limites du test Limite (R) Limite (RI) : [2000 Ω] Circuit de test...
  • Page 89 Les Auto Séquences® sont des séquences de mesure programmées. Les Auto Séquences® peuvent être préprogrammées sur PC avec le logiciel Metrel ES Manager et téléchargées sur l’appareil. Les paramètres et les limites de chaque test simple dans les Auto Séquences®...
  • Page 90 MI 3340 - AlphaEE XA Auto Séquences® 7.1.1 Organisation des Auto Séquences® dans le menu des Auto Séquences® Le menu Auto Séquence® peut être organisé de manière structurelle avec des dossiers, des sous-dossiers et des Auto Séquences®. L’Auto Séquence dans la structure peut être l’Auto Séquence originale ou un raccourci vers l’Auto Séquence originale.
  • Page 91 MI 3340 - AlphaEE XA Auto Séquences® 7.2.1 Le menu d’affichage de l’Auto Séquence® Sélection de l’en-tête : Nom de l’Auto Séquence® Code court Description Options Tests simples En-tête Début du test Démarrez l’Auto Séquence®. Configurateur Accédez au Configurateur d’Auto Séquence, voir le chapitre Configurateur d’Auto Séquence®.
  • Page 92 MI 3340 - AlphaEE XA Auto Séquences® Paramètres Affichez/Éditez les paramètres. Début du test Lancez l’Auto Séquence®. Aide Affichez les écrans d’aide. Options additionnelles Calibrer Compensation de la résistance des fils de test Activation des tests de points multiples : Définissez les Points multiples, voir Gestion de points multiples.
  • Page 93 Buzzer de Réussite / Échec après les tests Données prédéfinies des appareils Mode expert pour les inspections Passez les notifications non liées à la sécurité. Pour la liste et la description des commandes de flux, voir le fichier d’aide du logiciel Metrel ES Manager.
  • Page 94 MI 3340 - AlphaEE XA Auto Séquences® Les options proposées dans le panneau de contrôle dépendent du test simple sélectionné, de son résultat et du déroulement du test programmé. Procéder Passez à l’étape suivante de la séquence de test. Répétition de la liste Répétez la mesure.
  • Page 95 MI 3340 - AlphaEE XA Auto Séquences® Début du test Démarrez une nouvelle Auto Séquence®. Afficher Affichez les résultats des mesures individuelles. Commenter Ajoutez un commentaire à l’Auto Séquence. Imprimer l’étiquette Imprimez l’étiquette (disponible uniquement si le Imprimer & Sauvegarder dispositif d’impression est défini).
  • Page 96 MI 3340 - AlphaEE XA Auto Séquences® 7.2.7 Imprimer les étiquettes Remarque Les options ‘Imprimer l’étiquette’ sont disponibles uniquement si le dispositif d’écriture dans le menu des Réglages des appareils est défini. Si aucun dispositif d’écriture n’est défini, les options ‘Imprimer l’étiquette’ sont indisponibles. Imprimez l’étiquette.
  • Page 97 MI 3340 - AlphaEE XA Entretien 8 Entretien Il est interdit à toute personne non autorisée d’ouvrir l’appareil AlphaEE XA. Il n’y a pas de pièces remplaçables par l’utilisateur à l’intérieur de l’appareil, sauf la batterie placée sous le capot arrière. Étalonnage périodique Il est essentiel que tous les appareils de mesure soient régulièrement étalonnés pour que les spécifications techniques énumérées dans ce manuel soient garanties.
  • Page 98 MI 3340 - AlphaEE XA Entretien Remplacement / insertion de la batterie Procédure de déconnexion de la batterie Desserrez les vis et enlevez le capot du compartiment de la batterie/fusible.  Retirez la batterie de son compartiment   Appuyez pour déverrouiller le connecteur et tirez sur les fils pour déconnecter la batterie de l’appareil.
  • Page 99 MI 3340 - AlphaEE XA Entretien Service après-vente Pour les réparations sous garantie ou hors garantie, veuillez contacter votre distributeur pour plus d’informations. Il est interdit à toute personne non autorisée d’ouvrir l’appareil. L’appareil ne possède pas de pièces remplaçables par l’utilisateur. Nettoyage Utilisez un chiffon doux, légèrement humidifié...
  • Page 100 MI 3340 - AlphaEE XA Communications 9 Communications L’appareil peut communiquer avec le logiciel PC Metrel ES Manager. L’appareil dispose de deux interfaces de communication : USB et Bluetooth. L’appareil peut également communiquer avec de nombreux dispositifs externes (dispositifs Android, scanners, imprimantes, etc.).
  • Page 101 MI 3340 - AlphaEE XA Spécifications techniques 10 Spécifications techniques 10.1 Continuité Continuité Gamme Résolution Précision 0,00 Ω … 19,99 Ω 0,01 Ω ±(2 % à la lecture + 2 D) 20,0 Ω … 99,9 Ω 0,1 Ω ± 3 % à la lecture 100,0 Ω...
  • Page 102 MI 3340 - AlphaEE XA Spécifications techniques Tension de sortie Gamme Résolution Précision 0 V … 600 V ±(3 % à la lecture + 2 D) Gamme de fonctionnement (conformément à EN 61557-2) ........0.08 MΩ … 19.9 MΩ à Un: 50 V, 100 V Gamme de fonctionnement (conformément à...
  • Page 103 MI 3340 - AlphaEE XA Spécifications techniques Courant de fuite différentiel (avec le A 1830) Gamme Résolution Précision 0,10 mA … 1,99 mA 0,01 mA ±(5 % à la lecture + 20 D) Idiff 2,00 mA … 19,99 mA 0,01 mA ±...
  • Page 104 MI 3340 - AlphaEE XA Spécifications techniques 10.8 Fuite entre deux points Courant de fuite entre deux points Gamme Résolution Précision 0,000 mA … 1,999 mA 1 µA ±(3 % à la lecture + 3 D) Ileak 2,00 mA … 19,99 mA 0,01 mA ±...
  • Page 105 MI 3340 - AlphaEE XA Spécifications techniques 10.10 Entrée Itouch+Ifloating (Itou+Ifi) Courant de fuite de contact Gamme Résolution Précision (3 % à la lecture + 3 D) 0,000 mA … 1,999 mA 1 µA Itou (5% à la lecture) 2,00 mA … 19,99 mA 0,01 mA Gamme de fonctionnement (conformément à...
  • Page 106 MI 3340 - AlphaEE XA Spécifications techniques Puissance (réactive) Gamme Résolution Précision ±(0,00 var … 19,99 var) 0,01 var ±(5 % à la lecture + 10 D) ±(20,0 var … 199,9 var) 0,1 var ±(200 var … 1999 var) 1 var ±...
  • Page 107 MI 3340 - AlphaEE XA Spécifications techniques 10.12 Fuites et puissance Courant de fuite de contact Gamme Résolution Précision 0,000 mA … 1,999 mA 1 µA ±(3 % à la lecture + 3 D) Itou 2,00 mA … 19,99 mA 0,01 mA ±...
  • Page 108 MI 3340 - AlphaEE XA Spécifications techniques Facteur de puissance Gamme Résolution Précision 0,00i … 1,00i 0,01 ±(5 % à la lecture + 5 D) 0,00c … 1,00c Distorsion harmonique totale (tension) Gamme Résolution Précision THDU 0,0 % … 99,9 % 0,1 % ±(5 % à...
  • Page 109 MI 3340 - AlphaEE XA Spécifications techniques 10.14 Test DDRP Temps de déclenchement Gamme Résolution Précision  3 ms 0 ms … 300 ms (999 ms*) (½I  N  3 ms 0 ms … 300 ms (40 ms*) (I ...
  • Page 110 MI 3340 - AlphaEE XA Spécifications techniques 10.16 Conducteur PE (DDRP) Conducteur PE (Type = 2 piquets, 3 piquets, S( 3 piquets), S+) Gamme Résolution Précision 0,00  … 19,99  0,01  (2 % à la lecture + 2 D) Source de courant .................
  • Page 111 MI 3340 - AlphaEE XA Spécifications techniques 10.20 Conducteur PE (DDR-VE) Conducteur PE (test I = Standard) Gamme Résolution Précision 0,00  … 19,99  0,01  (2 % à la lecture + 2 D) Source de courant ...................< 0,2 A d.c. à R < 2 Ω Gamme de fonctionnement (conformément à...
  • Page 112 MI 3340 - AlphaEE XA Spécifications techniques 10.23 Test TRMS renforcé Tension Gamme Résolution Précision Uln, Unpe, Ulpe 103 V … 253 V ±(3 % à la lecture + 3 D) R loop Gamme Résolution Précision* (5 % à la lecture + 5 D) 0,0 kΩ...
  • Page 113 MI 3340 - AlphaEE XA Spécifications techniques 10.25 Données générales Alimentation secteur Tension d’alimentation, fréquence ........115 V* / 230 V a.c., 50 Hz / 60 Hz Tolérance de la tension d’alimentation ......±10 % Consommation d’énergie maximale ........30 VA (sans la charge sur la prise de test) Charge max……………………….
  • Page 114 MI 3340 - AlphaEE XA Spécifications techniques Conditions de référence : Plage de température de référence ..15 °C … 35 °C Plage d’humidité de référence ....35 % … 65 % RH Conditions de fonctionnement : Plage de température de travail .... 0 °C … +40 °C Humidité...
  • Page 115 MI 3340 - AlphaEE XA Annexe A Annexe A Objets de structure dans AlphaEE XA Les éléments de structure utilisés dans l’Organisateur de Mémoire dépendent du profil de l’appareil. Symbole Nom par défaut Description Nœud Nœud Projet Projet Emplacement Emplacement Client Client Dispositif...
  • Page 116 être effectués. Notez que les résultats des tests de fuite secondaire sont calculés pour 230 V. Pour plus d’informations sur les adaptateurs et leurs limites, contactez Metrel ou les distributeurs. L’appareil fonctionne sur un réseau de 230 V.
  • Page 117 MI 3340 - AlphaEE XA Annexe C Annexe C Imprimer les étiquettes et lire les étiquettes NFC L’appareil supporte différentes imprimantes d’étiquettes, différentes tailles de formes d’étiquettes, les deux formats d’étiquettes (PAT et Générique) et les dispositifs de lecture de code NFC.
  • Page 118 MI 3340 - AlphaEE XA Annexe C Taille Type ère ème Champs Données 1 étiquette Données 2 étiquette [W  H] d’étiquette Code Code de test, ID du ID du dispositif barre dispositif Code de test, ID du Classique ID du dispositif, Date du dispositif Texte test et du retest, Statut;...
  • Page 119 MI 3340 - AlphaEE XA Annexe C C.2 Format de l’étiquette générique Les tableaux ci-dessous indiquent le contenu imprimé sur l’étiquette sélectionnée. Format générique Taille Type Champs Données [W  H] d’étiquette Texte Nom de l’objet parent, Code de test, ID de l’objet, Date du test ou du retest, Statut, Utilisateur Nom de l’objet parent, Code de test, ID de...
  • Page 120 Annexe D Programmation d’Auto Séquences® sur Metrel ES Manager L’Éditeur d’Auto Séquence® fait partie du logiciel PC Metrel ES Manager. Dans l’Éditeur d’Auto Séquence®, vous pouvez pré programmer et organiser par groupes une Auto Séquence®, avant de la téléverser sur l’appareil.
  • Page 121 MI 3340 - AlphaEE XA Annexe D Une Auto Séquence® commence par Nom, Description et Image, suivie de la première étape (En-tête), d’une ou plusieurs étapes de mesure et se termine par la dernière étape (Résultat). Vous pouvez créer des Auto Séquences® arbitraires en insérant des tests simples (mesures, inspections et inspections personnalisées) et des commandes de flux et en...
  • Page 122 MI 3340 - AlphaEE XA Annexe D Les options d’opération sur le groupe d’Auto Séquences® sont disponibles dans la barre de menu en haut de l’espace de travail de l’éditeur d’Auto Séquence®. Options d’opération du fichier : Ouvrez un fichier (Groupe d’Auto Séquences®). Créez un nouveau fichier (Groupe d’Auto Séquences®).
  • Page 123 MI 3340 - AlphaEE XA Annexe D Un double clic sur le nom de l’objet permet de le modifier : Nom de l’Auto Séquence® : Modifiez le nom de l’Auto Séquence®. DOUBLE CLIC Nom du dossier : Modifiez le nom du dossier. Le glisser&déposer de l’Auto Séquence®...
  • Page 124 MI 3340 - AlphaEE XA Annexe D D.2.2 Recherche dans le groupe Auto Séquence® sélectionné En entrant le texte dans la boîte de recherche et en cliquant sur l’icône de recherche , les résultats trouvés sont mis en évidence sur fond jaune et le premier résultat trouvé (Dossier ou Auto Séquence®) est mis en avant.
  • Page 125 Annexe D D.3.2 Tests simples Les tests simples sont les mêmes que dans le menu Mesure du logiciel Metrel ES Manager. Les limites et les paramètres des mesures peuvent être définis. Les résultats et les sous- résultats ne peuvent pas être définis.
  • Page 126 MI 3340 - AlphaEE XA Annexe D Un clic droit sur l’étape de mesure / la commande de flux sélectionnée permet de : Copier - Coller avant Une étape de mesure / une commande de flux peut être copiée et collée au-dessus de l’emplacement sélectionné sur la même séquence ou sur une autre Auto Séquence®.
  • Page 127 MI 3340 - AlphaEE XA Annexe D D.5.3 Mode ‘Aucune Notification’ L’appareil passe les avertissements du pré-test (voir le chapitre pour plus d’informations). Paramètres On - Activez le mode ‘Aucune notification’. État Off - Désactivez le mode ‘Aucune notification’. D.5.4 Informations sur l’appareil L’appareil permet la sélection automatique du type de dispositif et l’ajout de l’ID du dispositif, du nom du dispositif et de la période de retest à...
  • Page 128 MI 3340 - AlphaEE XA Annexe D D.5.5 Mode Inspection Experte Si la commande de flux Inspection Experte est réglée, l’écran de l’inspection visuelle et l’écran de l’inspection fonctionnelle à l’intérieur d’une Auto Séquence® sont affichés pendant 1 seconde et une RÉUSSITE globale est automatiquement appliquée à la fin du test. Entre-temps, la procédure automatique peut être interrompue et les statuts peuvent être appliqués manuellement.
  • Page 129 MI 3340 - AlphaEE XA Annexe D D.5.7 Écran des résultats Cette commande de flux contrôle la procédure après la fin de l’Auto Séquence®. Paramètres Enregistrement Les résultats d’Auto Séquence® sont stockés dans automatique l’espace de travail momentané. Un nouveau nœud avec la date et l’heure est créé. Sous les résultats de l’Auto Sequence®...
  • Page 130 MI 3340 - AlphaEE XA Annexe D D.6 Programmation des inspections personnalisées Un ensemble arbitraire de tâches dédiées à des inspections spécifiques définies par l’utilisateur peut être programmé à l’aide de l’outil d’édition d’inspections personnalisées, accessible à partir de l’espace de travail de l’éditeur Auto Séquence®. Les inspections personnalisées sont stockées dans un fichier dédié...
  • Page 131 MI 3340 - AlphaEE XA Annexe D Options du menu principal de l’Éditeur d’inspections personnalisées: Ouvrez un fichier de données d’inspection personnalisé existant. En sélectionnant cette option, le menu de recherche de l’emplacement du fichier *.indf contenant une ou plusieurs données d’inspection personnalisées apparaît à l’écran.
  • Page 132 MI 3340 - AlphaEE XA Annexe D Modifier la structure des tâches de l’inspection Les tâches d’élément de l’inspection sélectionnée sont répertoriées dans la colonne Nom à droite de l’espace de travail de l’éditeur. Chaque tâche d’élément peut avoir des tâches d’élément enfant, l’élément enfant peut avoir ses propres tâches d’élément enfant et ainsi de suite.
  • Page 133 MI 3340 - AlphaEE XA Annexe D Modifier le nom et le type de tâche de l’élément Modifier le nom de tâche de l’élément Cliquez sur le champ Nom de la tâche de l’élément pour commencer à le modifier. Faites glisser le curseur, en maintenant le bouton gauche de la souris enfoncé, pour sélectionner des lettres et des mots.
  • Page 134 Remarque Si l’étendue du travail de Metrel ES Manager est modifiée, le fichier de données d’inspection ouvert reste actif et les inspections personnalisées disponibles restent les mêmes.
  • Page 135 Le SDK est une interface puissante pour la communication de données avec les appareils de test Metrel. Le SDK lui-même est un ensemble de définitions de sous-programmes, de protocoles et d’outils pour la création de logiciels d’application. Il est destiné à ceux qui souhaitent développer des logiciels utilisant la plate-forme .NET et qui ont besoin d’une...
  • Page 136 MI 3340 - AlphaEE XA Annexe F Annexe F Tests dans les systèmes d’alimentation IT et CT Lorsque vous testez des appareils dans un système d’alimentation IT ou CT, certaines fonctions de test dans l’appareil sont omises pour des raisons de sécurité. Ci-dessous vous trouverez une liste de fonctions de test applicables.
  • Page 137 • Si la case ‘Utilisation par une personne formée’ est cochée. Cette case peut être réglée dans Metrel ES Manager, dans l’éditeur d’Auto Séquence®. En général, le changement des paramètres de mesure et des limites sur les tests simples inclus n’est pas possible.
  • Page 138 MI 3340 - AlphaEE XA Contact SEFRAM, 32 Rue Edouard Martel, BP55, 42009 St Etienne - France 04 77 59 01 01 sales@sefram.com sales@sefram.com www.sefram.com LinkedIn: SEFRAMINSTRUMENTS YouTube: SEFRAMINSTRUMENTS...